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講演抄録/キーワード
講演名 2018-02-20 11:00
正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大
抄録 (和) LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費電力の増大は, IR-dropを過度に増加させる.過度のIR-dropは,LSIが正しく動作していないと判定されるほどの遅延を引き起こし誤テストの原因となる.歩留りの低下に直接関わる誤テストを回避するためには,テスト時の消費電力の削減と,適切な電力評価が重要である.過度なIR-dropは回路全体で発生することは稀であり,高い IR-dropが起こるエリアを特定することが必要である.エリアの特定手段としてテストベクトルを利用する動的手法があるが,一般的に計算時間が長い.本稿では,テストベクトルを利用せずに高いIR-dropが発生するエリアを特定する手法を提案する. 
(英) In general, power consumption during LSI testing is higher than functional operation. Excessive power consumption in at-speed testing causes excessive IR-drop and delay, resulting in over-testing. In order to avoid over-testing, which directly is related to yield loss, test power reduction and efficient power analysis is required. Since excessive IR-drop does not occur in whole area of LSI, locating an area with high IR-drop is very important. There are two techniques to analyze power such as dynamic one and static one. Dynamic techniques require test vectors and its computational cost is expensive. In this work, we proposed a technique to locate an area with high IR-drop with static technique.
キーワード (和) 実速度テスト / テスト時の消費電力 / 誤テスト / 遷移遅延故障 / テスト生成 / / /  
(英) At-speed testing / test power / over-testing / transition delay test / test generation / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 444, DC2017-80, pp. 19-24, 2018年2月.
資料番号 DC2017-80 
発行日 2018-02-13 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2018-02-20 - 2018-02-20 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2018-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Locating Hot Spots with Justification Techniques in a Layout Design 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 実速度テスト / At-speed testing  
キーワード(2)(和/英) テスト時の消費電力 / test power  
キーワード(3)(和/英) 誤テスト / over-testing  
キーワード(4)(和/英) 遷移遅延故障 / transition delay test  
キーワード(5)(和/英) テスト生成 / test generation  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 河野 雄大 / Yudai Kawano / カワノ ユウダイ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
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講演者
発表日時 2018-02-20 11:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2017-80 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.444 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2018-02-13 


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