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講演抄録/キーワード
講演名 2018-01-30 13:35
負荷変動時のリンギング検出によるデジタル電源出力コンデンサの故障予測
中尾 宏米澤 遊中島善康富士通研)・黒川不二雄長崎総合科学大EE2017-71
抄録 (和) 山中の携帯基地局等のインフラ系施設では、維持管理における信頼性と保守コストのバランスが課題である。中でも電源装置およびそこに搭載された電解コンデンサは消耗部品であり、通常、冗長化とスポット保守で信頼性を担保している。安価な劣化監視/故障予測技術が実現されれば、定期保守の予防保全効果改善により、スポット保守コストが削減できる。著者らはデジタル制御特有の現象として、コンデンサ劣化に伴うESR増加がステップ応答波形にリンギングを発生させることを見いだした。制御マイコンが通常取得するデータのみで検出可能であり、追加回路無しにソフトウェアのみで実現できる劣化監視/故障予測手法として有効である。 
(英) Electrolytic capacitors are known as one of the highest failure rate components in switching mode power supply SMPS). We found low stability phenomenon of digitally controlled SMPS caused by capacitor equivalent serial resistance (ESR) degradation. This low stability phenomenon is digitally control oriented and suitable for degradation detection or failure prediction of electrolytic capacitor.
キーワード (和) デジタル制御電源 / 電解コンデンサ / 故障予測 / リンギング / / / /  
(英) Digitally controlled SMPS / Electrolytic capacitor / degradation detection / failure prediction / low stability phenomenon / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 424, EE2017-71, pp. 165-170, 2018年1月.
資料番号 EE2017-71 
発行日 2018-01-22 (EE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EE2017-71

研究会情報
研究会 EE  
開催期間 2018-01-29 - 2018-01-30 
開催地(和) サテライトキャンパスおおいた (大分市) 
開催地(英) Satellite Campus Oita 
テーマ(和) 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EE 
会議コード 2018-01-EE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 負荷変動時のリンギング検出によるデジタル電源出力コンデンサの故障予測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Failure Prediction Using Low Stability Phenomenon of Digitally Controlled SMPS by Electrolytic Capacitor ESR Degradation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) デジタル制御電源 / Digitally controlled SMPS  
キーワード(2)(和/英) 電解コンデンサ / Electrolytic capacitor  
キーワード(3)(和/英) 故障予測 / degradation detection  
キーワード(4)(和/英) リンギング / failure prediction  
キーワード(5)(和/英) / low stability phenomenon  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中尾 宏 / Hiroshi Nakao / ナカオ ヒロシ
第1著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD. (略称: Fujitsu LAB)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 米澤 遊 / Yu Yonezawa / ヨネザワ ユウ
第2著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD. (略称: Fujitsu LAB)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 善康 / Yoshiyasu Nakashima / ナカシマ ヨシヤス
第3著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD. (略称: Fujitsu LAB)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒川 不二雄 / Fujio Kurokawa /
第4著者 所属(和/英) 長崎総合科学大学 (略称: 長崎総合科学大)
The Nagasaki Institute of Applied Science (略称: NiAS)
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講演者
発表日時 2018-01-30 13:35:00 
発表時間 30 
申込先研究会 EE 
資料番号 IEICE-EE2017-71 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.424 
ページ範囲 pp.165-170 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EE-2018-01-22 


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