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講演抄録/キーワード
講演名 2018-01-29 13:15
[ポスター講演]系統故障発生時におけるマイクログリッドの動特性の検討
新實健秀大脇大輝雪田和人松村年郎後藤泰之愛知工大)・谷口和彦森田祐志きんでんEE2017-56
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 117, no. 424, EE2017-56, pp. 81-86, 2018年1月.
資料番号 EE2017-56 
発行日 2018-01-22 (EE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード EE2017-56

研究会情報
研究会 EE  
開催期間 2018-01-29 - 2018-01-30 
開催地(和) サテライトキャンパスおおいた (大分市) 
開催地(英) Satellite Campus Oita 
テーマ(和) 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EE 
会議コード 2018-01-EE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 系統故障発生時におけるマイクログリッドの動特性の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study of Dynamic Characteristics of Microgrid at System Failure Occurrence 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 新實 健秀 / Kenshu Niimi / ニイミ ケンシュウ
第1著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大脇 大輝 / Daiki Owaki / オオワキ ダイキ
第2著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 雪田 和人 / Kazuto Yukita / ユキタ カズト
第3著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松村 年郎 / Toshiro Matsumura / マツムラ トシロウ
第4著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 後藤 泰之 / Yasuyuki Goto / ゴトウ ヤスユキ
第5著者 所属(和/英) 愛知工業大学 (略称: 愛知工大)
Aichi Institute of Technology (略称: AIT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 谷口 和彦 / Kazuhiko Taniguchi / タニグチ カズヒコ
第6著者 所属(和/英) 株式会社きんでん (略称: きんでん)
Kinden Corporation (略称: Kinden)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 森田 祐志 / Hiroshi Morita / モリタ ヒロシ
第7著者 所属(和/英) 株式会社きんでん (略称: きんでん)
Kinden Corporation (略称: Kinden)
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講演者
発表日時 2018-01-29 13:15:00 
発表時間 80 
申込先研究会 EE 
資料番号 IEICE-EE2017-56 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.424 
ページ範囲 pp.81-86 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EE-2018-01-22 


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