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講演抄録/キーワード
講演名
2018-01-26 11:10
光電界センサを用いた電界計測システムの国際標準化の現状
○
飴谷充隆
・
黒川 悟
(
産総研
)・
鳥羽良和
(
精工技研
)・
今荘義弘
・
植松浩司
(
スタック電子
)
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抄録
(和)
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(英)
(Not available yet)
キーワード
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(英)
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文献情報
信学技報
資料番号
発行日
ISSN
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研究会情報
研究会
EMT EST LQE MWP OPE PEM PN IEE-EMT
開催期間
2018-01-25 - 2018-01-26
開催地(和)
姫路西はりま地場産業センター
開催地(英)
テーマ(和)
フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバーとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、マイクロ波・ミリ波フォトニクス、及び一般
テーマ(英)
講演論文情報の詳細
申込み研究会
PEM
会議コード
2018-01-EMT-EST-LQE-MWP-OPE-PEM-PN-EMT
本文の言語
日本語
タイトル(和)
光電界センサを用いた電界計測システムの国際標準化の現状
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Current Status of International Standardization of Electric-field Measurement System Using Optical Electric-field Sensor
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
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キーワード(2)(和/英)
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キーワード(3)(和/英)
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
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キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
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キーワード(8)(和/英)
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
飴谷 充隆
/
Michitaka Ameya
/
アメヤ ミチタカ
第1著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National
(略称:
AIST
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
黒川 悟
/
Satoru Kurokawa
/
クロカワ サトル
第2著者 所属(和/英)
産業技術総合研究所
(略称:
産総研
)
National
(略称:
AIST
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
鳥羽 良和
/
Yoshikazu Toba
/
トバ ヨシカズ
第3著者 所属(和/英)
(株)精工技研
(略称:
精工技研
)
SEIKOH GIKEN Co., Ltd.
(略称:
SEIKOH GIKEN
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
今荘 義弘
/
Yoshihiro Imajo
/
イマジョウ ヨシヒロ
第4著者 所属(和/英)
スタック電子(株)
(略称:
スタック電子
)
Stack electronics co., LTD.
(略称:
Stack electronics
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
植松 浩司
/
Koji Uematsu
/
ウエマツ コウジ
第5著者 所属(和/英)
スタック電子(株)
(略称:
スタック電子
)
Stack electronics co., LTD.
(略称:
Stack electronics
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第6著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第7著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第8著者 所属(和/英)
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(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第9著者 所属(和/英)
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(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第10著者 所属(和/英)
(略称: )
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第11著者 所属(和/英)
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(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第12著者 所属(和/英)
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(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第13著者 所属(和/英)
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(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第14著者 所属(和/英)
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第15著者 所属(和/英)
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第16著者 所属(和/英)
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第17著者 所属(和/英)
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
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(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2018-01-26 11:10:00
発表時間
25分
申込先研究会
PEM
資料番号
巻番号(vol)
vol.117
号番号(no)
ページ範囲
ページ数
発行日
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