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講演抄録/キーワード
講演名 2018-01-18 15:45
組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査
稲元 勉樋上喜信愛媛大MSS2017-57 SS2017-44
抄録 (和) 本稿では,組合せ回路の故障検出用テストパターン集合の故障検出率向上を目的とし,そのために計算機代数システムを利用する試みの一端を報告する.
組合せ回路の論理式を多項式として表現し,信号線の値を表す多項式を外部入力を表す変数で偏微分することにより,偏導関数が得られる.
この偏導関数はブール微分に相当するため,故障検出に有用な情報を有していると推察する.
この推察のもと,偏導関数が含む変数数を,その偏導関数に対応する信号線の値に対してある外部入力が与える影響に関する特徴量として取り上げる.
計算結果では,その特徴量と故障検出率の関係についての予備的調査結果を示す. 
(英) In this study, the authors display an attempt of deploying a computer algebra system to improve the fault detection rate of test pattern sets
for fault detection of combinational circuits.
Partial derivatives are brought by representing logic expressions for external output lines of combinational circuits as polynomial
expressions comprised of variables each of which corresponds to an external input line of circuits, and then by differentiating output
polynomial expressions by input variables.
The author speculates such partial derivatives hold some information useful for fault detection, because they correspond to boolean
differences.
According to this speculation, the number of variables contained in the partial derivative is picked up as a characteristics of that
derivative.
In computational results, the relation between that characteristics and the fault detection rate is investigated.
キーワード (和) 組合せ回路 / 縮退故障 / 故障検出 / 多項式 / 計算機代数システム / / /  
(英) combinational circuit / stuck-at fault / fault detection / polynomial / computer algebra system / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 380, MSS2017-57, pp. 59-64, 2018年1月.
資料番号 MSS2017-57 
発行日 2018-01-11 (MSS, SS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード MSS2017-57 SS2017-44

研究会情報
研究会 SS MSS  
開催期間 2018-01-18 - 2018-01-19 
開催地(和) 広島市立大学サテライトキャンパス 
開催地(英)  
テーマ(和)  
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MSS 
会議コード 2018-01-SS-MSS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study on Deployment of a Computer Algebra System for Generating Random Test Patterns for Combinational Circuits 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 組合せ回路 / combinational circuit  
キーワード(2)(和/英) 縮退故障 / stuck-at fault  
キーワード(3)(和/英) 故障検出 / fault detection  
キーワード(4)(和/英) 多項式 / polynomial  
キーワード(5)(和/英) 計算機代数システム / computer algebra system  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 稲元 勉 / Tsutomu Inamoto / イナモト ツトム
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2018-01-18 15:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 MSS 
資料番号 MSS2017-57, SS2017-44 
巻番号(vol) vol.117 
号番号(no) no.380(MSS), no.381(SS) 
ページ範囲 pp.59-64 
ページ数
発行日 2018-01-11 (MSS, SS) 


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