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講演抄録/キーワード
講演名 2017-12-14 15:10
実装条件によるチップ素子の周波数特性変化
石川洋介伊藤浩之道正志郎石原 昇益 一哉東工大CAS2017-94 ICD2017-82 CPSY2017-91 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2017-82
抄録 (和) チップ素子のハンダ付けの良し悪しによって基板の高周波特性が変化することが知られているが,本稿では具体的にどのような高周波特性になるのかを実測により評価した.
1005 サイズのキャパシタを用いて,適正なハンダ付けと思われる場合と,ハンダ量が多すぎる場合,チップ素子に浮きが生じた場合の3 種類のボードを作成し,測定によりインピーダンスの周波数特性を評価した.
直列抵抗が支配的になる周波数までは特性の差は見られなかった.
今回の場合は,約3GHz 以上で各々の特性に差が表れ,特にチップ素子に浮きがある場合の寄生インダクタンスが大きい傾向が見られた. 
(英) It is known that the high frequency characteristic of the board changes epending on whether soldering of the chip element is good or bad. In this paper, we evaluate frequency characteristics by measurement.
We prepared three kinds of boards: when proper soldering, when the amount of solder is too much, when floating on chip elements.
In this case, a difference appears in each characteristic at more than 3 GHz, and a parasitic inductance tends to be large especially when the chip element has a float.
キーワード (和) 実装 / / / / / / /  
(英) implementation / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 344, ICD2017-82, pp. 133-133, 2017年12月.
資料番号 ICD2017-82 
発行日 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CAS2017-94 ICD2017-82 CPSY2017-91 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2017-82

研究会情報
研究会 ICD CPSY CAS  
開催期間 2017-12-14 - 2017-12-15 
開催地(和) アートホテル石垣島 
開催地(英) Art Hotel Ishigakijima 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2017-12-ICD-CPSY-CAS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 実装条件によるチップ素子の周波数特性変化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Changes in frequency characteristics of chip elements by implementation situation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 実装 / implementation  
キーワード(2)(和/英) /  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 石川 洋介 / Yosuke Ishikawa / イシカワ ヨウスケ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of technology (略称: titech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 浩之 / Hiroyuki Ito / イトウ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of technology (略称: titech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 道正 志郎 / Shiro Dosho / ドウショウ シロウ
第3著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of technology (略称: titech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 石原 昇 / Noboru Ishihara / イシハラ ノボル
第4著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of technology (略称: titech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 益 一哉 / Kazuya Masu / マス カズヤ
第5著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of technology (略称: titech)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-12-14 15:10:00 
発表時間 120分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 CAS2017-94, ICD2017-82, CPSY2017-91 
巻番号(vol) vol.117 
号番号(no) no.343(CAS), no.344(ICD), no.345(CPSY) 
ページ範囲 p.133 
ページ数
発行日 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) 


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