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講演抄録/キーワード
講演名 2017-11-07 09:00
スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大
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抄録 (和) 論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案されている.しかし既存手法では,中間観測するFF数,すなわち中間観測による面積オーバヘッドと故障検出率とはトレードオフの関係にある.本研究では,テスト対象回路の回路接続情報を解析することで,故障検出率向上及び回路面積増大を抑制する中間観測FF選出手法を提案する.評価実験により,面積オーバヘッドは既存手法から87.5 %削減が可能であることを確認できた. 
(英) A logic BIST scheme using multi-cycle test with partial observation has been proposed. In the scheme, the selection of flip-flops for partial observation plays an important role for improving the fault coverage and reducing the area overhead. This paper proposes a selection method of flip-flops for partial observation that can maximize the fault coverage under the limitation of the number of flip-flops. Experimental results show that the proposed method can obtain higher fault coverage than the existing flip-flop selection method and results in less area overhead.
キーワード (和) BIST / スキャンテスト / マルチサイクルテスト / 中間観測 / / / /  
(英) BIST / Scan Test / Multi-Cycle Test / Partial Observation / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 274, DC2017-47, pp. 85-90, 2017年11月.
資料番号 DC2017-47 
発行日 2017-10-30 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE IPSJ-SLDM 
開催期間 2017-11-06 - 2017-11-08 
開催地(和) くまもと県民交流館パレア 
開催地(英) Kumamoto-Kenminkouryukan Parea 
テーマ(和) デザインガイア2017 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2017 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2017-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE-SLDM-EMB-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Test with Partial Observation in Scan-Based Logic BIST 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) BIST / BIST  
キーワード(2)(和/英) スキャンテスト / Scan Test  
キーワード(3)(和/英) マルチサイクルテスト / Multi-Cycle Test  
キーワード(4)(和/英) 中間観測 / Partial Observation  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大島 繁之 / Shigeyuki Oshima / オオシマ シゲユキ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
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講演者
発表日時 2017-11-07 09:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2017-41,IEICE-DC2017-47 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.273(VLD), no.274(DC) 
ページ範囲 pp.85-90 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2017-10-30,IEICE-DC-2017-10-30 


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