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講演抄録/キーワード
講演名 2017-07-20 10:40
[招待講演]テラヘルツ時間領域分光システムを用いた誘電率測定の精度調査とその活用方法
水野麻弥NICT)・飯田仁志木下 基産総研)・福永 香NICT)・島田洋蔵産総研)・大谷知行理研EMT2017-8 MW2017-33 OPE2017-13 EST2017-10 MWP2017-10 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMT2017-8 MW2017-33 OPE2017-13 EST2017-10 MWP2017-10
抄録 (和) 近年,ミリ波やテラヘルツ波を利用した通信や非破壊検査技術などの研究が進み、それらに関連する様々な材料や試料の複素誘電率を正確に把握することが求められるようになってきた。そこで本研究では,テラヘルツ帯の複素誘電率を測定するために使用される機器のうち,光伝導アンテナを用いたテラヘルツ時間領域分光システムを対象として,測定値のばらつきに関する調査を進め,測定値の信頼性に関して検討を行った.各研究機関が所有する透過型テラヘルツ時間領域分光システム6台を用いて,同一の高抵抗シリコン板を測定し,データのばらつきとその要因について考察した結果と測定例をいくつか紹介する。 
(英) Terahertz time-domain spectrometer from approximately 0.1 to 1 THz are frequently used for measuring complex dielectric constants of various materials. We compared the spectral data measured using six transmission-type terahertz time-domain spectrometers to verify the effects of the specifications of each system on the transmittance measurement uncertainty. We prepared high-resistivity silicon plate as a sample and circulated them around the three institutions to measure using each system. In this presentation, we introduce the spectral comparison results and some spectral examples.
キーワード (和) テラヘルツ時間領域分光システム / 複素誘電率 / 測定精度 / / / / /  
(英) Terahertz Time-domain Spectrometer / Complex Dielectric Constant Measurement / Precision Inspection / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 117, no. 140, MW2017-33, pp. 11-16, 2017年7月.
資料番号 MW2017-33 
発行日 2017-07-13 (EMT, MW, OPE, EST, MWP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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研究会情報
研究会 MWP OPE EMT MW EST IEE-EMT  
開催期間 2017-07-20 - 2017-07-21 
開催地(和) 帯広商工会議所 
開催地(英) Obihiro Chamber of Commerce and Industry 
テーマ(和) 光・電波ワークショップ 
テーマ(英) Light wave & Electromagnetic Wave Workshop 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MW 
会議コード 2017-07-MWP-OPE-EMT-MW-EST-EMT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) テラヘルツ時間領域分光システムを用いた誘電率測定の精度調査とその活用方法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Precision Inspection of Dielectric Constant Measurement Using Terahertz Time-domain Spectroscopy System and Its Application 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ時間領域分光システム / Terahertz Time-domain Spectrometer  
キーワード(2)(和/英) 複素誘電率 / Complex Dielectric Constant Measurement  
キーワード(3)(和/英) 測定精度 / Precision Inspection  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 水野 麻弥 / Maya Mizuno / ミズノ マヤ
第1著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 仁志 / Hitoshi Iida / イイダ ヒトシ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 木下 基 / Moto Kinoshita / キノシタ モト
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 福永 香 / Kaori Fukunaga / フクナガ カオリ
第4著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 島田 洋蔵 / Yozo Shimada / シマダ ヨウゾウ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 大谷 知行 / Chiko Otani / オオタニ チコ
第6著者 所属(和/英) 理化学研究所 (略称: 理研)
RIKEN (略称: RIKEN)
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講演者
発表日時 2017-07-20 10:40:00 
発表時間 40 
申込先研究会 MW 
資料番号 IEICE-EMT2017-8,IEICE-MW2017-33,IEICE-OPE2017-13,IEICE-EST2017-10,IEICE-MWP2017-10 
巻番号(vol) IEICE-117 
号番号(no) no.139(EMT), no.140(MW), no.141(OPE), no.142(EST), no.143(MWP) 
ページ範囲 pp.11-16 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMT-2017-07-13,IEICE-MW-2017-07-13,IEICE-OPE-2017-07-13,IEICE-EST-2017-07-13,IEICE-MWP-2017-07-13 


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