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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-06-20 14:50 信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について ○松永裕介（九大）  CAS2017-21 VLD2017-24 SIP2017-45 MSS2017-21 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． 通常のSATソルバを用いた手法では故障を検出する論理的な制約を 満たすテストパタンが唯一得られるだけで信号遷移回数のコントロールを 行うことはできない． そこで，テストパタン生成問題を表すCNF式にランダムに生成した式を追加 することで元の問題に対するランダムサンプリングを行う手法を用いて テストパタンのランダムサンプリングを行うアルゴリズムを提案する． 生成された複数のパタンの中から信号遷移回数や消費電力などの尺度 で優れたパタンを選択することで従来不可能であったSATソルバを 用いたテストパタン生成において解の質をコントロールすることが 可能となっている． |
| （英） | This paper presents a test pattern generation method with considering signal transition activities using a SAT solver. A simple SAT based test pattern generation method can only find a single pattern per a fault, which does not consider the signal transition activities. The proposed method employs a randam sampling algorithm for SAT problem, which adds randomly generated constraints to the original problem. The proposed method can generate arbitary number of test patterns for one fault, so that the user can select the best one among those patterns with respect to signal transition activities or power consumption. |
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| キーワード | （和） | テストパタン生成 / 信号遷移回数 / SAT / ランダムサンプリング / / / / |
| （英） | test pattern generation / signal transition activity / SAT / random sampling / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 97, VLD2017-24, pp. 107-112, 2017年6月. | |
| 資料番号 | VLD2017-24 | |
| 発行日 | 2017-06-12 (CAS, VLD, SIP, MSS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CAS2017-21 VLD2017-24 SIP2017-45 MSS2017-21 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SIP CAS MSS VLD |
| 開催期間 | 2017-06-19 - 2017-06-20 |
| 開催地（和） | 新潟大学五十嵐キャンパス 中央図書館ライブラリーホール |
| 開催地（英） | Niigata University, Ikarashi Campus |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2017-06-SIP-CAS-MSS-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | SAT model sampling for test pattern generation considering signal transition activities |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパタン生成 / test pattern generation |
| キーワード(2)（和/英） | 信号遷移回数 / signal transition activity |
| キーワード(3)（和/英） | SAT / SAT |
| キーワード(4)（和/英） | ランダムサンプリング / random sampling |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松永 裕介 / Yusuke Matsunaga / マツナガ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-06-20 14:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | CAS2017-21, VLD2017-24, SIP2017-45, MSS2017-21 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.96(CAS), no.97(VLD), no.98(SIP), no.99(MSS) |
| ページ範囲 | pp.107-112 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-06-12 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
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