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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-05-24 10:15 劣化検出のための短周期テストパタンを用いた決定論的パス遅延測定法 ○加藤健太郎・森 祐海（鶴岡高専）  CPSY2017-12 DC2017-12 |
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| 抄録 | （和） | 短周期テストパタンは決め打ちしたパスを短い時間間隔で連続して活性化することができる．この特性を用いて，可変クロックを用いたスキャンベースのパス遅延測定へ応用することにより，測定時間の短縮を実現することができる．本論文では，SoCの出荷後の劣化検出のための短周期テストパタンを用いた決定論的パス遅延測定法を提案する．短周期テストパタンを適用することにより，スキャンベースのパス遅延測定に必要な測定パスの連続活性化に要する時間を削減することができ，オンラインパス遅延測定に要する時間を削減することが可能となる．またパス活性化に加えて，セグメント活性化による遅延測定を導入することにより検出率を向上される．シミュレーション実験により測定時間が従来法の1.62%に削減され，面積オーバヘッドが1.9%となることを確認した． |
| （英） | hort cycle test pattern can sensitize target paths deterministically and periodically in short interval. It is useful to apply the short cycle test pattern for accelerate scan-based online delay measurement. This paper presents a deterministic scan-based online delay measurement using short cycle test pattern for keeping reliability after shipment. Applying short cycle test pattern to scan-based online delay measurement drastically reduces the time required for iterative path sensitizations. Introducing segment delay measurement improves the coverage. Simulation results shows that the measurement time of the proposed method is 1.62 % of the conventional scan-based approach. The area overhead is 1.9 %. | |
| キーワード | （和） | 短周期テストパタン / 劣化検出 / 決定論的パス遅延測定 / クロック位相制御 / / / / |
| （英） | Short Cycle Test Pattern / Aging Detection / Deterministic Path Delay Measurement / Clock Phase Control / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 117, no. 45, DC2017-12, pp. 69-74, 2017年5月. | |
| 資料番号 | DC2017-12 | |
| 発行日 | 2017-05-15 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2017-12 DC2017-12 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | RECONF CPSY DC IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2017-05-22 - 2017-05-24 |
| 開催地（和） | 登別温泉第一滝本館 |
| 開催地（英） | Noboribetsu-Onsen Dai-ichi-Takimoto-Kan |
| テーマ（和） | HotSPA2017: リコンフィギャラブルシステム・ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 |
| テーマ（英） | HotSPA2017: Reconfigurable System, Dependable Computing System, and General Topics |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2017-05-RECONF-CPSY-DC-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 劣化検出のための短周期テストパタンを用いた決定論的パス遅延測定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Deterministic Path Delay Measurement Using Short Cycle Test Pattern for Aging Detection |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 短周期テストパタン / Short Cycle Test Pattern |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化検出 / Aging Detection |
| キーワード(3)（和/英） | 決定論的パス遅延測定 / Deterministic Path Delay Measurement |
| キーワード(4)（和/英） | クロック位相制御 / Clock Phase Control |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 健太郎 / Kentaro Kato / カトウ ケンタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 鶴岡工業高等専門学校 (略称： 鶴岡高専) National Institute of Technolgoy, Tsuruoka College (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 祐海 / Umi Mori / モリ ウミ |
| 第2著者 所属（和/英） | 鶴岡工業高等専門学校 (略称： 鶴岡高専) National Institute of Technolgoy, Tsuruoka College (略称： NIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-05-24 10:15:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | CPSY2017-12, DC2017-12 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | no.44(CPSY), no.45(DC) |
| ページ範囲 | pp.69-74 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-05-15 (CPSY, DC) |
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