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講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-21 10:30
キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法
細川利典平井淳士山崎紘史新井雅之日大DC2016-74
抄録 (和) 実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし,歩留り損失の原因のひとつにあげられる.その問題を解決するために,初期テスト集合中のキャプチャセーフテストベクトルを利用した故障シミュレーションベースの低キャプチャ電力テスト生成手法が提案されている.本論文では,キャプチャセーフテストベクトル数を削減するために,その低消費電力テスト生成における動的テスト圧縮法を提案する.動的テスト圧縮法では,一次故障と故障励起キューブが衝突せず,かつ一次故障を検出するテストベクトルで活性化されているファンアウトフリー領域に存在するアンセーフ故障を二次故障として選択する.実験結果は,動的テスト圧縮を適用することでキャプチャセーフテストベクトル数を平均18%削減したことを示す. 
(英) In at-speed scan testing, capture power is a serious problem because the high power dissipation that can occur when the response for a test vector is captured by flip-flops results in circuit-damaging high temperature and timing errors, which may cause significant capture-induced yield loss. A low capture power test generation method based on fault simulation using capture safe test vectors in an initial test set was proposed to resolve a high capture power problem. In this paper, we propose a dynamic test compaction method on the low capture power test generation to reduce the number of capture-safe test vectors. In the dynamic test compaction, faults to satisfy the following conditions are selected as secondary faults. The conditions are that fault excitation cubes of secondary faults are compatible with that of a primary fault and secondary faults are located in fanout-free regions which are sensitized by a test vector for a primary fault. Experimental results show that the use of this method reduces the number of capture-safe test vectors by 18% on average.
キーワード (和) 低消費電力 / テスト生成 / キャプチャセーフテストベクトル / 動的テスト圧縮 / / / /  
(英) low power / test generation / captue-safe test vectors / dynamic test compaction / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-74, pp. 1-6, 2017年2月.
資料番号 DC2016-74 
発行日 2017-02-14 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2016-74

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2017-02-21 - 2017-02-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2017-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A dynamic test compaction method on low power oriented test generation using capture safe test vectors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 低消費電力 / low power  
キーワード(2)(和/英) テスト生成 / test generation  
キーワード(3)(和/英) キャプチャセーフテストベクトル / captue-safe test vectors  
キーワード(4)(和/英) 動的テスト圧縮 / dynamic test compaction  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 平井 淳士 / Atsushi Hirai / ヒライ アツシ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第4著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
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講演者
発表日時 2017-02-21 10:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2016-74 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.466 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2017-02-14 


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