| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2017-02-21 10:30 キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 ○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大）  DC2016-74 |
|
| 抄録 | （和） | 実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩留り損失の原因のひとつにあげられる．その問題を解決するために，初期テスト集合中のキャプチャセーフテストベクトルを利用した故障シミュレーションベースの低キャプチャ電力テスト生成手法が提案されている．本論文では，キャプチャセーフテストベクトル数を削減するために，その低消費電力テスト生成における動的テスト圧縮法を提案する．動的テスト圧縮法では，一次故障と故障励起キューブが衝突せず，かつ一次故障を検出するテストベクトルで活性化されているファンアウトフリー領域に存在するアンセーフ故障を二次故障として選択する．実験結果は，動的テスト圧縮を適用することでキャプチャセーフテストベクトル数を平均18%削減したことを示す． |
| （英） | In at-speed scan testing, capture power is a serious problem because the high power dissipation that can occur when the response for a test vector is captured by flip-flops results in circuit-damaging high temperature and timing errors, which may cause significant capture-induced yield loss. A low capture power test generation method based on fault simulation using capture safe test vectors in an initial test set was proposed to resolve a high capture power problem. In this paper, we propose a dynamic test compaction method on the low capture power test generation to reduce the number of capture-safe test vectors. In the dynamic test compaction, faults to satisfy the following conditions are selected as secondary faults. The conditions are that fault excitation cubes of secondary faults are compatible with that of a primary fault and secondary faults are located in fanout-free regions which are sensitized by a test vector for a primary fault. Experimental results show that the use of this method reduces the number of capture-safe test vectors by 18% on average. | |
| キーワード | （和） | 低消費電力 / テスト生成 / キャプチャセーフテストベクトル / 動的テスト圧縮 / / / / |
| （英） | low power / test generation / captue-safe test vectors / dynamic test compaction / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-74, pp. 1-6, 2017年2月. | |
| 資料番号 | DC2016-74 | |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2016-74 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2017-02-21 - 2017-02-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2017-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A dynamic test compaction method on low power oriented test generation using capture safe test vectors |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 低消費電力 / low power |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(3)（和/英） | キャプチャセーフテストベクトル / captue-safe test vectors |
| キーワード(4)（和/英） | 動的テスト圧縮 / dynamic test compaction |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平井 淳士 / Atsushi Hirai / ヒライ アツシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2017-02-21 10:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2016-74 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.466 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]