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講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-21 14:00
Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems
Tsuyoshi IwagakiKohta ItaniHideyuki IchiharaTomoo InoueHiroshima City Univ.DC2016-78
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) This paper discusses delay-robustness of a four-phase dual-rail asynchronous system at register transfer level (RTL). A type of RTL delay faults, which can be caused by the stress during operations in the field and correspond to aging-induced degradation, is introduced to analyze delay-robustness of such a system. Since data transfer between registers is realized by the interaction between the controller and datapath of an asynchronous system, i.e., by handshaking, the effect of any delay fault never causes system failure but can lead to performance degradation of the system. In this paper, it is pointed out that operational unit binding in high-level synthesis for asynchronous systems affects their delay-robustness in terms of performance degradation through several design examples. The future direction of operational unit binding is also discussed to obtain asynchronous systems with high delay-robustness.
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) Four-phase dual-rail asynchronous system / Aging-induced degradation / RTL delay fault / Delay-robustness / Op- erational unit binding / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-78, pp. 23-28, 2017年2月.
資料番号 DC2016-78 
発行日 2017-02-14 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2016-78

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2017-02-21 - 2017-02-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2017-02-DC 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) / Four-phase dual-rail asynchronous system  
キーワード(2)(和/英) / Aging-induced degradation  
キーワード(3)(和/英) / RTL delay fault  
キーワード(4)(和/英) / Delay-robustness  
キーワード(5)(和/英) / Op- erational unit binding  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki / イワガキ ツヨシ
第1著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 猪谷 孝太 / Kohta Itani / イタニ コウタ
第2著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ
第3著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智生 / Tomoo Inoue /
第4著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-02-21 14:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2016-78 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.466 
ページ範囲 pp.23-28 
ページ数
発行日 2017-02-14 (DC) 


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