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講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-21 11:35
論理回路の組込み自己診断に関する提案
香川敬祐矢野郁也王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・大竹哲史大分大
抄録 (和) 近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィールド上で車載システムのテストを行うパワーオンセルフテスト(Power On Self Test :POST)のための要素技術の開発が望まれている.POSTにおいては,制限されたテストパターン数のもとで,規定された故障検出率に達することを目的とする組込み自己テスト技術の開発が進んでいる.さらに,POSTにおいて,長期の機能安全を確保するために故障検出だけでなく被疑故障箇所を指摘する組込み自己診断(Built-In Self Diagnosis: BISD)の要素技術の開発が望まれている.そこで,本稿では,BISDにおいて解決しなければならない課題を議論し,新しいBISD機構を提案する.提案する機構では,被検査回路上で故障を検出するだけではなく,予め登録した故障の中から故障候補も指摘できる.そのために,提案する機構では,診断用署名生成器および診断用署名に基づく故障候補の指摘器を新たに導入する.そして最後に,予備実験を行い診断用署名・被疑故障署名の圧縮と故障診断能力の関係を評価する. 
(英) Recently, roles of automotive LSI to realize a functional safety of vehicle are increasing. In order to guarantee the functional safety, developing the component technologies for Power On Self Test (POST) to test the vehicle system in the field is desirable. For POST, Built-In Self Test technologies that can achieve the specificed/expect fault coverage with limited patterns are developing. Moreover, it is believed that a Built-In Self Diagnosis (BISD) technology for POST that can not only detect faults but also locate the faults will be crucial to ensure the long-term functional safety. In this paper, we indictate the problems that have to be solved for BISD, and propose a new BISD architecture. In the proposed architecture, it can not only detect faults on the CUT but also indicate fault candidates from a prestored faults index. For this purpose, we introduce a new diagnostic signature generator and the circuit to indicate the fault candidate based on the diagnostic signatures. Finally, we evaluate the relationships between the compression of diagnostic signature/suspected fault signature and fault diagnosis capability.
キーワード (和) 組込み自己診断 / 診断用署名 / 故障診断能力 / / / / /  
(英) Built-In Self Diagnosis / diagnostic signature / fault diagnosis capability / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-76, pp. 11-16, 2017年2月.
資料番号 DC2016-76 
発行日 2017-02-14 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2017-02-21 - 2017-02-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2017-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 論理回路の組込み自己診断に関する提案 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Built-In Self Diagnosis Architecture for Logic Design 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 組込み自己診断 / Built-In Self Diagnosis  
キーワード(2)(和/英) 診断用署名 / diagnostic signature  
キーワード(3)(和/英) 故障診断能力 / fault diagnosis capability  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 香川 敬祐 / Keisuke Kagawa / カガワ ケイスケ
第1著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 矢野 郁也 / Fumiya Yano / ヤノ フミヤ
第2著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ
第3著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第5著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ
第6著者 所属(和/英) 大分大学 (略称: 大分大)
Oita University (略称: Oita Univ.)
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講演者
発表日時 2017-02-21 11:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2016-76 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.466 
ページ範囲 pp.11-16 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2017-02-14 


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