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講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-21 16:10
FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察
佐藤晃平三浦幸也首都大東京DC2016-82
抄録 (和) FPGA(Field Programmable Gate Array)とは任意の論理機能を何度も書き換えて実装することができる集積回路である.近年,半導体の微細化に伴って,LSIと同様にFPGAチップの製造ばらつきやトランジスタの劣化による回路動作への影響が問題になってきている.FPGAを用いて,信頼性の高いディジタルシステムを実現するためには,製造ばらつきや劣化の影響を考慮する必要がある.FPGAの劣化対策や,劣化量を推定するためには,FPGAチップの初期状態の特性ばらつきを評価することが重要となる.LSIにおいて,リングオシレータ(RO : Ring Oscillator)を用いたチップ内部の製造ばらつきの測定手法が提案されている.本研究では,FPGAの劣化対策や劣化量推定の実現に向けて,ROをFPGA上に実装し,発振周波数の測定を行うことで,FPGAチップの特性ばらつきを評価し,また,ばらつき測定回路の精度も評価した. 
(英) FPGAs (Field Programmalbe Gate Arrays) are integrated circuits that can be implemented arbitrary logic functions by reconfigration. In recent years, with the downscaling of semiconductors, the influence on circuit operation due to process variations of FPGA chips and aging of transistors has become problems as with LSIs. In order to realize a highly reliable digital system using FPGA, it is necessary to consider the influence of process variation and aging. Evaluating the characteristics of the initial state of the FPGA chip is important for estimating the aging amount of FPGA and taking measures against aging. In LSIs, a method for measuring process variation of the chip using a ring oscillator (RO) has been proposed. In this study, ROs are implemented in FPGA, oscillation frequency is measured, and the variation in characteristics of the FPGA chip is evaluated.
キーワード (和) FPGA / リングオシレータ / 発振周波数 / ばらつき / 特性 / / /  
(英) FPGA / Ring Oscillators / Oscillating frequency / variation / characteristics / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-82, pp. 45-52, 2017年2月.
資料番号 DC2016-82 
発行日 2017-02-14 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2016-82

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2017-02-21 - 2017-02-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2017-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Considerations on Characteristics of Ring Oscillators Implemented in FPGA 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FPGA / FPGA  
キーワード(2)(和/英) リングオシレータ / Ring Oscillators  
キーワード(3)(和/英) 発振周波数 / Oscillating frequency  
キーワード(4)(和/英) ばらつき / variation  
キーワード(5)(和/英) 特性 / characteristics  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 晃平 / Kouhei Satou / サトウ コウヘイ
第1著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metropolitan Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 三浦 幸也 / Yukiya Miura /
第2著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metropolitan Univ.)
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講演者
発表日時 2017-02-21 16:10:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2016-82 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.466 
ページ範囲 pp.45-52 
ページ数 IEICE-8 
発行日 IEICE-DC-2017-02-14 


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