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講演抄録/キーワード
講演名 2017-02-21 10:55
電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平濱崎機一九工大)・ザウアー マティアスフライブルク大)・ポリアン イリアパッサウ大)・ベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大
抄録 (和) LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている.今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし,低消費電力化は電源ネットワークの電源配線幅の縮小や電源電圧の低減を可能にする.現状では,異なる階層間の配線の接続にビアが冗長に使用されており電源配線上の小さな欠陥であれば問題ないとされるが,今後の微細化と低消費電力化により電源配線における欠陥も重大なエラーを引き起こすと考えらえる.電源配線の欠陥自体のみでは,重大なエラーにならない場合でも,近年顕在化しているIR-drop増加による誤テストの発生確率が高まる.本稿では,様々な電源ネットワークを用意し,電源配線の本数,幅,およびビアの欠如が,IR-dropにどのように影響するかをIWLS2005ベンチマーク回路に対して解析する.また,IR-dropによる遅延値解析も実施する.解析結果は,今後の故障診断やテスト生成に利用することが可能である. 
(英) The shrinking feature size and low power design of LSI make LSI testing very difficult. Further development of LSI technology will lead to thinner wiring width, even for power supply networks and power supply voltage. Currently, vias used between the different layers of a power supply network are redundantly designed; therefore, missing only one via does not cause any problems. However, further shrinkage of feature size and low power design will lead to serious error caused by defects on the power supply network. Even though defects on power supply networks themselves do not cause an error, these defects may increase the possibility of test malfunction, a problem which has recently been actualized. In this paper, we analyze IR-drop on different power supply network designs for IWLS2005 benchmark circuits in order to understand the effect that IR-drop propagates on a chip when a via is missing. Analyzed results will be used in fault diagnosis for power related defects and power controlling test pattern generation.
キーワード (和) 低消費電力設計 / 電力制御型テスト / 電源ネットワーク設計 / 誤テスト / 故障診断 / テスト生成 / /  
(英) low power design / power controlling testing / power supply network design / test malfunction / fault diagnosis / test pattern generation / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 466, DC2016-75, pp. 7-10, 2017年2月.
資料番号 DC2016-75 
発行日 2017-02-14 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2017-02-21 - 2017-02-21 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2017-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) IR-Drop Analysis on Different Power Supply Network Designs 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 低消費電力設計 / low power design  
キーワード(2)(和/英) 電力制御型テスト / power controlling testing  
キーワード(3)(和/英) 電源ネットワーク設計 / power supply network design  
キーワード(4)(和/英) 誤テスト / test malfunction  
キーワード(5)(和/英) 故障診断 / fault diagnosis  
キーワード(6)(和/英) テスト生成 / test pattern generation  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱崎 機一 / Kiichi Hamasaki / ハマサキ キイチ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) ザウアー マティアス / Matthias Sauer / ザウアー マティアス
第3著者 所属(和/英) フライブルク大学 (略称: フライブルク大)
University of Freiburg (略称: University of Freiburg)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) ポリアン イリア / Ilia Polian / ポリアン イリア
第4著者 所属(和/英) パッサウ大学 (略称: パッサウ大)
University of Passau (略称: University of Passau)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) ベッカー ベルンド / Bernd Becker / ベッカー ベルンド
第5著者 所属(和/英) フライブルク大学 (略称: フライブルク大)
University of Freiburg (略称: University of Freiburg)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第6著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji kajihara / カジハラ セイジ
第7著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
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講演者
発表日時 2017-02-21 10:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2016-75 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.466 
ページ範囲 pp.7-10 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-DC-2017-02-14 


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