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講演抄録/キーワード
講演名 2017-01-24 13:55
耐タンパ性のための位置レジスタ表現の検討
佐藤清広藤枝直輝市川周一豊橋技科大
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文献情報 信学技報, vol. 116, no. 416, CPSY2016-122, pp. 109-114, 2017年1月.
資料番号 CPSY2016-122 
発行日 2017-01-16 (VLD, CPSY, RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 CPSY RECONF VLD IPSJ-SLDM IPSJ-ARC  
開催期間 2017-01-23 - 2017-01-25 
開催地(和) 慶大日吉キャンパス 
開催地(英) Hiyoshi Campus, Keio Univ. 
テーマ(和) FPGA応用および一般 
テーマ(英) FPGA Applications, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPSY 
会議コード 2017-01-CPSY-RECONF-VLD-SLDM-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 耐タンパ性のための位置レジスタ表現の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Expression of Positional registers for Tamper resistance 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 清広 / Kiyohiro Sato / サトウ キヨヒロ
第1著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤枝 直輝 / Naoki Fujieda / フジエダ ナオキ
第2著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市川 周一 / Shuichi Ichikawa / イチカワ シュウイチ
第3著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
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講演者
発表日時 2017-01-24 13:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 CPSY 
資料番号 IEICE-VLD2016-86,IEICE-CPSY2016-122,IEICE-RECONF2016-67 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.415(VLD), no.416(CPSY), no.417(RECONF) 
ページ範囲 pp.109-114 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2017-01-16,IEICE-CPSY-2017-01-16,IEICE-RECONF-2017-01-16 


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