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講演抄録/キーワード
講演名 2017-01-24 13:55
耐タンパ性のための位置レジスタ表現の検討
佐藤清広藤枝直輝市川周一豊橋技科大VLD2016-86 CPSY2016-122 RECONF2016-67
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 116, no. 416, CPSY2016-122, pp. 109-114, 2017年1月.
資料番号 CPSY2016-122 
発行日 2017-01-16 (VLD, CPSY, RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2016-86 CPSY2016-122 RECONF2016-67

研究会情報
研究会 CPSY RECONF VLD IPSJ-SLDM IPSJ-ARC  
開催期間 2017-01-23 - 2017-01-25 
開催地(和) 慶大日吉キャンパス 
開催地(英) Hiyoshi Campus, Keio Univ. 
テーマ(和) FPGA応用および一般 
テーマ(英) FPGA Applications, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPSY 
会議コード 2017-01-CPSY-RECONF-VLD-SLDM-ARC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 耐タンパ性のための位置レジスタ表現の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Expression of Positional registers for Tamper resistance 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 清広 / Kiyohiro Sato / サトウ キヨヒロ
第1著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤枝 直輝 / Naoki Fujieda / フジエダ ナオキ
第2著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 市川 周一 / Shuichi Ichikawa / イチカワ シュウイチ
第3著者 所属(和/英) 豊橋技術科学大学 (略称: 豊橋技科大)
Toyohashi University of Technology (略称: TUT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2017-01-24 13:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 CPSY 
資料番号 VLD2016-86, CPSY2016-122, RECONF2016-67 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.415(VLD), no.416(CPSY), no.417(RECONF) 
ページ範囲 pp.109-114 
ページ数
発行日 2017-01-16 (VLD, CPSY, RECONF) 


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