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講演抄録/キーワード
講演名 2016-12-15 15:30
[ポスター講演]ストレージ・クラス・メモリで構成したSSDの信頼性を考慮した性能の評価
安達 優瀧下博文竹内 健中大ICD2016-68 CPSY2016-74 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2016-68
抄録 (和) ストレージ・クラス・メモリ(SCM)はNAND型フラッシュメモリよりも高速な不揮発性メモリである.将来的にストレージとして利用できるまでに安価になると考えられるSCMを用いることにより、SSDの性能が向上することが見込まれる.SCMで構成されたSSDにおいてもビットエラーは避けられないので,データの信頼性を保証するために,書き込み時のベリファイやデータの誤り訂正が行われる.しかし,これらによる処理時間の増大は,SSDの性能の低下を引き起こしてしまう.本論文では,SCMのみで構成されたSSDにおいて、信頼性を考慮するために書き込みベリファイや誤り訂正符号を用いたSSDの性能評価を行った. 
(英) The future Storage Class Memory (SCM) is equivalent to NAND Flash in terms of cost. SCM is high performance compared with NAND Flash, which is non-volatile memory. Therefore, Solid State Drive (SSD) performance will be improved by using SCM. However, in SCM, bit error is inevitable. The bit error rate is improved by verify write, which extend write time. In addition, error-correcting code (ECC) is used for data reliability, which requires long calculation time. Thus, verify write and ECC degrade SSD performance. In this paper, SCM-based SSD performance is analyzed in consideration of verify write and ECC.
キーワード (和) ストレージ・クラス・メモリ(SCM) / ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / ベリファイ / 誤り訂正符号(ECC) / / / /  
(英) Storage Class Memory(SCM) / Solid State Drive(SSD) / verify / error-correcting code(ECC) / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-68, pp. 55-55, 2016年12月.
資料番号 ICD2016-68 
発行日 2016-12-08 (ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2016-68 CPSY2016-74 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2016-68

研究会情報
研究会 ICD CPSY  
開催期間 2016-12-15 - 2016-12-16 
開催地(和) 東京工業大学 
開催地(英) Tokyo Institute of Technology 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2016-12-ICD-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ストレージ・クラス・メモリで構成したSSDの信頼性を考慮した性能の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Performance Evaluation of Storage Class Memory based SSD in Consideration of Reliability 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ストレージ・クラス・メモリ(SCM) / Storage Class Memory(SCM)  
キーワード(2)(和/英) ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / Solid State Drive(SSD)  
キーワード(3)(和/英) ベリファイ / verify  
キーワード(4)(和/英) 誤り訂正符号(ECC) / error-correcting code(ECC)  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 安達 優 / Yutaka Adachi / アダチ ユタカ
第1著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 瀧下 博文 / Hirofumi Takishita / タキシタ ヒロフミ
第2著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第3著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
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講演者
発表日時 2016-12-15 15:30:00 
発表時間 120 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2016-68,IEICE-CPSY2016-74 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.364(ICD), no.365(CPSY) 
ページ範囲 p.55 
ページ数 IEICE-1 
発行日 IEICE-ICD-2016-12-08,IEICE-CPSY-2016-12-08 


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