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講演抄録/キーワード
講演名 2016-12-15 15:30
[ポスター講演]長期保存向けNAND型フラッシュメモリのエラー傾向の解析
溝口恭史高橋知紀有留誠一竹内 健中大ICD2016-72 CPSY2016-78 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2016-72
抄録 (和) 近年、芸術や文化、歴史などの10年から100年、またはそれ以上のデータ保持が求められるデジタルデータが急増している。これを実現するメモリの一つとしてNAND型フラッシュメモリが期待されている。NAND型フラッシュメモリにおいてデータ保持寿命と書き換え回数はトレードオフの関係にあり、データを長期間保持するためには書き換え回数は少なく制限される。また、メモリに生じるエラーの傾向は保持温度や書き換えストレスの有無によって変化する。本論文では、1つのセルに3ビットの情報を記憶することができるTLC NAND型フラッシュメモリについて書き換え回数を少数回とした場合の保存条件の変化に対するエラー傾向を調査した。 
(英) Recently, a digital data on art, culture and history which required data-retention (DR) time from 10 to 100 years or more has been rapidly increased. NAND flash memory is expected as one of long-term data storage devices. In NAND flash memory, the reliability trade-off exists between DR time and write/erase (W/E) cycles. Therefore, to achieve long-term DR, W/E cycles are restricted. In addition, the error tendency depends on the retention temperature and W/E cycles. This paper investigated the error tendency on different retention condition in Triple-level cell (TLC, 3bit /cell) NAND flash memory which is applied low W/E cycles.
キーワード (和) NAND型フラッシュメモリ / アーカイブ / / / / / /  
(英) NAND flash memory / archive / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-72, pp. 63-63, 2016年12月.
資料番号 ICD2016-72 
発行日 2016-12-08 (ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2016-72 CPSY2016-78 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2016-72

研究会情報
研究会 ICD CPSY  
開催期間 2016-12-15 - 2016-12-16 
開催地(和) 東京工業大学 
開催地(英) Tokyo Institute of Technology 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2016-12-ICD-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 長期保存向けNAND型フラッシュメモリのエラー傾向の解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Error Analysis of NAND Flash Memories for Long-Term Storage 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) NAND型フラッシュメモリ / NAND flash memory  
キーワード(2)(和/英) アーカイブ / archive  
キーワード(3)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 溝口 恭史 / Kyoji Mizoguchi / ミゾグチ キョウジ
第1著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 知紀 / Tomonori Takahashi / タカハシ トモノリ
第2著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 有留 誠一 / Seiichi Aritome / アリトメ セイイチ
第3著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第4著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-12-15 15:30:00 
発表時間 120分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2016-72, CPSY2016-78 
巻番号(vol) vol.116 
号番号(no) no.364(ICD), no.365(CPSY) 
ページ範囲 p.63 
ページ数
発行日 2016-12-08 (ICD, CPSY) 


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