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講演抄録/キーワード
講演名 2016-12-15 15:30
[ポスター講演]NAND型フラッシュメモリに生じる読み出しディスターブエラーの解析
渡邉 光小林惇朗竹内 健中大ICD2016-66 CPSY2016-72 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2016-66
抄録 (和) 近年、クラウド技術やSNSの普及により、データが局所的に読み出されるアプリケーションが増加している。ソリッド・ステート・ドライブ(SSD)の構成部品であるNAND型フラッシュメモリは、多値化や微細化技術により1ビットあたりのコストが低下している。一方、データが頻繁に読み出されることによるエラーの増加が問題となっている。これは、データを読み出す際に非読み出しメモリセルに電圧が印加され浮遊ゲートに誤って電子が注入されることにより、メモリセルのしきい値電圧が上昇してしまうことが原因とされている。これを読み出しディスターブエラーという。本論文では、信頼性を改善するために読み出しディスターブエラーの解析を行った。 
(英) Recently, as cloud computing technology and Social Networking Service spread, the applications whose data is read locally have been increased. The cost of NAND flash memory, which composes solid-state drives, is reduced by multi-level cell and scaling technology. In contrast, errors are increased by frequent read operations. This error is occurred due to unintended threshold voltage increase because the electrons are injected to the floating-gate by applying voltage to the non-read target cells when the data is read. This error is called read-disturb error. In this paper, we analyzed the read-disturb error to improve the reliability of NAND flash memory.
キーワード (和) NAND型フラッシュメモリ / ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / 信頼性 / / / / /  
(英) NAND flash memory / Soild-state drives(SSDs) / reliability / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-66, pp. 51-51, 2016年12月.
資料番号 ICD2016-66 
発行日 2016-12-08 (ICD, CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2016-66 CPSY2016-72 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2016-66

研究会情報
研究会 ICD CPSY  
開催期間 2016-12-15 - 2016-12-16 
開催地(和) 東京工業大学 
開催地(英) Tokyo Institute of Technology 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2016-12-ICD-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) NAND型フラッシュメモリに生じる読み出しディスターブエラーの解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Read Disturb Error in NAND Flash Memory 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) NAND型フラッシュメモリ / NAND flash memory  
キーワード(2)(和/英) ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / Soild-state drives(SSDs)  
キーワード(3)(和/英) 信頼性 / reliability  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邉 光 / Hikaru Watanabe / ワタナベ ヒカル
第1著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 惇朗 / Atsuro Kobayashi / コバヤシ アツロウ
第2著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第3著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
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講演者
発表日時 2016-12-15 15:30:00 
発表時間 120 
申込先研究会 ICD 
資料番号 IEICE-ICD2016-66,IEICE-CPSY2016-72 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.364(ICD), no.365(CPSY) 
ページ範囲 p.51 
ページ数 IEICE-1 
発行日 IEICE-ICD-2016-12-08,IEICE-CPSY-2016-12-08 


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