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講演抄録/キーワード
講演名 2016-11-30 11:45
解像度変化に頑健な画像マッチングのためのランキング学習に基づいた特徴点検出法
吉川 慧亀山啓輔筑波大CPM2016-85 ICD2016-46 IE2016-80 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2016-85 ICD2016-46
抄録 (和) 画像からの特徴点検出による画像マッチングはコンピュータビジョンの様々な分野で使用されている。
特徴点検出およびその特徴化にはScale-Invariant Feature Transform(SIFT)が幅広く使用されている。
しかしながら、SIFTではサイズの異なる画像間においては特徴点の対応付けが困難となる。
この問題を解決するために、本研究では解像度変化に頑健な特徴点検出法を提案する。
具体的にはLiらによるRankSIFTに基づいて、ガウシアンスケールスペース(GSS)に加えて各特徴点のスケール情報を、スケール変化に対する特徴点の頑健性を向上させるために使用した。
また、回帰により特徴点の安定性を予測する方法を提案し、RankSIFTに基づく従来の方法と比較した。
提案法は解像度変化に対し、対応点を効率よく推定できるように特徴点の絞り込みが可能であることを示す。 
(英) The image matching by keypoint selection from images is used in various situations in computer vision.
Among them, Scale-Invariant Feature Transform (SIFT), has been widely used for the feature extraction.
However, when the resolutions of the matched
images differ, solving keypoint correspondences become
difficult. In this work, we propose a method to detect
keypoints that are robust to scale changes. Based on
RankSIFT by Li et al., Gaussian Scale Space (GSS) and
scale features of each feature point are used to estimate
their robustness against scaling.
In addition, we proposed the method that predict the stability of keypoints by regression, and compared with the previous method based on RankSIFT.
The proposed method proved to be effective in finding a small set of points that persist through scaling.
キーワード (和) 特徴点検出 / 画像マッチング / SIFT / / / / /  
(英) Keypoint Detection / Image Matching / SIFT / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 335, IE2016-80, pp. 45-50, 2016年11月.
資料番号 IE2016-80 
発行日 2016-11-22 (CPM, ICD, IE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2016-85 ICD2016-46 IE2016-80 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2016-85 ICD2016-46

研究会情報
研究会 VLD DC CPSY RECONF CPM ICD IE  
開催期間 2016-11-28 - 2016-11-30 
開催地(和) 立命館大学大阪いばらきキャンパス 
開催地(英) Ritsumeikan University, Osaka Ibaraki Campus 
テーマ(和) デザインガイア2016 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2016 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IE 
会議コード 2016-11-VLD-DC-CPSY-RECONF-CPM-ICD-IE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 解像度変化に頑健な画像マッチングのためのランキング学習に基づいた特徴点検出法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Keypoint Detection based on Learning to Rank for Robust Image Matching under Resolution Variation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 特徴点検出 / Keypoint Detection  
キーワード(2)(和/英) 画像マッチング / Image Matching  
キーワード(3)(和/英) SIFT / SIFT  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 慧 / Satoshi Yoshikawa / ヨシカワ サトシ
第1著者 所属(和/英) 筑波大学 (略称: 筑波大)
University of Tsukuba (略称: Univ. of Tsukuba)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 亀山 啓輔 / Keisuke Kameyama / カメヤマ ケイスケ
第2著者 所属(和/英) 筑波大学 (略称: 筑波大)
University of Tsukuba (略称: Univ. of Tsukuba)
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講演者
発表日時 2016-11-30 11:45:00 
発表時間 25 
申込先研究会 IE 
資料番号 IEICE-CPM2016-85,IEICE-ICD2016-46,IEICE-IE2016-80 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.333(CPM), no.334(ICD), no.335(IE) 
ページ範囲 pp.45-50 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CPM-2016-11-22,IEICE-ICD-2016-11-22,IEICE-IE-2016-11-22 


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