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| 講演名 | 2016-11-25 15:20 半導体EMI試験と車載機器EMI試験の相関検証 ○飯田幹也・長谷川幸久・松毛和久（東芝）  EMCJ2016-97 |
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| 抄録 | （和） | 半導体EMI試験規格(ICE61967)と車載機器EMI試験規格(CISPR25)の関係性を明らかにした．具体的には，複数あるEMI試験規格の中から，特に重要視されている半導体のVDE法EMI試験系と車載機器の放射EMI試験系のシミュレーションモデルを作成し，ノイズ源から測定ポートへの伝搬特性を解析した．伝搬特性の定量化により，双方のEMIスペックの厳しさレベルを比較することができ，そのレベルは同程度であることを明らかにした．また，実測確認により，シミュレーションで得られた伝搬特性の妥当性を確認した． |
| （英） | We made relationship between IC level EMI test standard (ICE61967) and ECU level EMI test standard (CISPR25) clear. Specifically, we made a simulation model of VDE method EMI test system of IC and the radiation EMI test system of ECU. ―Those EMI tests are important in several EMI test standard. ― And simulated propagation characteristic to a measurement port from a noise source. Severity of both EMI specifications, the level was compared from the simulated propagation characteristic. And we made it clear that its level is the same degree. Further, the validity of the propagation characteristic a simulation gave was confirmed by measurement confirmation. | |
| キーワード | （和） | EMI / 半導体 / 車載機器 / VDE法 / ALSE法 / / / |
| （英） | EMI / Semiconductor / ECU / VDE method / ALSE method / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 116, no. 327, EMCJ2016-97, pp. 55-60, 2016年11月. | |
| 資料番号 | EMCJ2016-97 | |
| 発行日 | 2016-11-18 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2016-97 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2016-11-25 - 2016-11-25 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会，一般 |
| テーマ（英） | Young Scientist Meeting |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2016-11-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 半導体EMI試験と車載機器EMI試験の相関検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Correlation inspection between IC level EMI test and ECU level EMI test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | EMI / EMI |
| キーワード(2)（和/英） | 半導体 / Semiconductor |
| キーワード(3)（和/英） | 車載機器 / ECU |
| キーワード(4)（和/英） | VDE法 / VDE method |
| キーワード(5)（和/英） | ALSE法 / ALSE method |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯田 幹也 / Mikiya Iida / イイダ ミキヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社 東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 幸久 / Yukihisa Hasegawa / ハセガワ ユキヒサ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社 東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松毛 和久 / Kazuhisa Matsuge / マツゲ カズヒサ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社 東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-11-25 15:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2016-97 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | no.327 |
| ページ範囲 | pp.55-60 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-11-18 (EMCJ) |
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