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講演抄録/キーワード
講演名 2016-06-17 15:50
多数決イネーブルラッチを用いた非同期式回路の耐故障性に関する一検討
今井 雅弘前大)・米田友洋NII
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抄録 (和) ソフトエラーやハードウェアトロイなど様々な要因により、LSI内においてビット反転が生じ、システムが誤動作する問題がある。Dラッチを用いた回路構成においては、通常、イネーブル信号は一つであり、ビット反転に対する耐性が低い。本稿では、イネーブル信号を三重化し、多数決により書き込みを制御するラッチを提案し、非同期式回路に適用した場合の効果に関して検討した結果を示す。 
(英) A bit flip caused by voltage fluctuation, soft errors, and hardware Trojans becomes one of serious issues in the modern computer systems. In latch-based asynchronous circuits, it is relatively difficult to tolerate a bit flip since its enable signal is usually implemented using a single-wire, whose capacitance is small. In this paper, one idea to tolerate the bit flip in the latch-based asynchronous circuits is proposed. A new voted-enable D-latch circuitry is presented and its evaluation results are shown using the 130nm process technology.
キーワード (和) ソフトエラー / ハードウェアトロイ / 非同期式回路 / ラッチベース回路 / 2phaseハンドシェイクプロトコル / / /  
(英) Soft error / Hardware Trojan / Asynchronous circuits / Latch-based circuits / 2-phase handshaking protocol / / /  
文献情報 信学技報, vol. 116, no. 94, VLD2016-39, pp. 179-184, 2016年6月.
資料番号 VLD2016-39 
発行日 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD CAS MSS SIP  
開催期間 2016-06-16 - 2016-06-17 
開催地(和) 弘前市立観光館 
開催地(英) Hirosaki Shiritsu Kanko-kan 
テーマ(和) システムと信号処理および一般 
テーマ(英) System, signal processing and related topics 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2016-06-VLD-CAS-MSS-SIP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 多数決イネーブルラッチを用いた非同期式回路の耐故障性に関する一検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study on Fault Tolerant Features of Asynchronous Circuits using Voted-enable Latches 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / Soft error  
キーワード(2)(和/英) ハードウェアトロイ / Hardware Trojan  
キーワード(3)(和/英) 非同期式回路 / Asynchronous circuits  
キーワード(4)(和/英) ラッチベース回路 / Latch-based circuits  
キーワード(5)(和/英) 2phaseハンドシェイクプロトコル / 2-phase handshaking protocol  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 今井 雅 / Masashi Imai / イマイ マサシ
第1著者 所属(和/英) 弘前大学 (略称: 弘前大)
Hirosaki University (略称: Hirosaki Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 米田 友洋 / Tomohiro Yoneda / ヨネダ トモヒロ
第2著者 所属(和/英) 国立情報学研究所 (略称: NII)
National Institute of Informatics (略称: NII)
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講演者
発表日時 2016-06-17 15:50:00 
発表時間 20 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-CAS2016-33,IEICE-VLD2016-39,IEICE-SIP2016-67,IEICE-MSS2016-33 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.93(CAS), no.94(VLD), no.95(SIP), no.96(MSS) 
ページ範囲 pp.179-184 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-CAS-2016-06-09,IEICE-VLD-2016-06-09,IEICE-SIP-2016-06-09,IEICE-MSS-2016-06-09 


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