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講演抄録/キーワード
講演名 2016-05-30 16:30
測定相関の一般的扱いについて
岡村和弥名大
抄録 (和) この講演では,量子論における測定相関を系統的扱いを確立する試みについて紹介する。(一般化)Heisenberg描像におけるインストルメントの完全な対応物である,測定相関の系という概念を定義する。そして,測定相関の系の定義と整合的な,測定過程の概念を定義する。量子力学的な系において,測定相関の系と測定過程の完全同値を除いた一対一対応を確立する。これは測定相関の系のユニタリーダイレーション定理に他ならない。そして,量子測定理論への統計的アプローチの観点から,完全正値インストルメントの測定相関の系への拡張可能性に焦点を当てる。任意の完全正値インストルメントが測定相関の系へと拡張可能であることが証明される。加えて,単射的von Neumann代数の場合に,任意の完全正値インストルメントが任意の精度で忠実な測定過程で近似されることを示す。 
(英) We give a talk on an attempt to establish a systematic treatment of measurement correlations in quantum theory. We define the concept of system of measurement correlations, which is the exact counterpart of instrument in the (generalized) Heisenberg picture. We then define the concept of measuring process, which is consistent with the definition of system of measurement correlations. In quantum mechanical systems, we establish a one-to-one correspondence between systems of measurement correlations and measuring processes up to complete equivalence. This is nothing but a unitary dilation theorem of systems of measurement correlations. Next, from the viewpoint of the statistical approach to quantum measurement theory, we focus on the extendability of CP instruments to systems of measurement correlations. It is shown that all CP instruments are extended into systems of measurement correlations. Moreover, in the case of injective von Neumann algebras, we show that any CP instruments are approximated by faithful measuring processes within arbitrarily given error limits.
キーワード (和) 測定相関の系 / 完全正値インストルメント / 測定過程 / / / / /  
(英) System of measurement correlations / CP instrument / measuring process / / / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN  
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研究会情報
研究会 QIT  
開催期間 2016-05-30 - 2016-05-31 
開催地(和) 高知工科大学永国寺キャンパス 
開催地(英) Kochi University of Technology Eikokuji campus 
テーマ(和) 量子情報, 一般 
テーマ(英) Quantum Information 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 QIT 
会議コード 2016-05-QIT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 測定相関の一般的扱いについて 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On a general treatment of measurement correlations 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 測定相関の系 / System of measurement correlations  
キーワード(2)(和/英) 完全正値インストルメント / CP instrument  
キーワード(3)(和/英) 測定過程 / measuring process  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡村 和弥 / Kazuya Okamura /
第1著者 所属(和/英) 名古屋大学 (略称: 名大)
Nagoya University (略称: Nagoya Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-05-30 16:30:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 QIT 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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