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講演抄録/キーワード
講演名 2016-05-13 11:55
近接放射イミュニティ試験のEUT表面における電界強度の校正時との偏差
中村尚倫奧川雄一郎広島芳春高谷和宏NTTEMCJ2016-11
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) (Not available yet)
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文献情報 信学技報, vol. 116, no. 26, EMCJ2016-11, pp. 11-16, 2016年5月.
資料番号 EMCJ2016-11 
発行日 2016-05-06 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード EMCJ2016-11

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2016-05-13 - 2016-05-13 
開催地(和) 北海道大学 百年記念会館 
開催地(英) Hokkaido University 
テーマ(和) パワエレ,EMC一般 
テーマ(英) Power Electronics, EMC 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2016-05-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 近接放射イミュニティ試験のEUT表面における電界強度の校正時との偏差 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study on Electric Field Strength at the surface of EUT for radiated immunity test in close proximity 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 尚倫 / Naomichi Nakamura / ナカムラ ナオミチ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 奧川 雄一郎 / Yuichiro Okugawa / オクガワ ユウイチロウ
第2著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 広島 芳春 / Yoshiharu Hiroshima / ヒロシマ ヨシハル
第3著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 高谷 和宏 / Kazuhiro Takaya / タカヤ カズヒロ
第4著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
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講演者
発表日時 2016-05-13 11:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 IEICE-EMCJ2016-11 
巻番号(vol) IEICE-116 
号番号(no) no.26 
ページ範囲 pp.11-16 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMCJ-2016-05-06 


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