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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2016-03-11 11:40 最隣接点誤り多レベル通信路のゼロエラー容量の漸近評価 ○中野貴文・和田山 正（名工大）  IT2015-130 ISEC2015-89 WBS2015-113 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では，最隣接点誤り多レベル通信路のゼロエラー容量の評価を行う．$d$組($d$-tuple)で表される送信系列のただ1シンボルのみが最隣接の文字に誤る可能性を持つ通信路である最隣接点誤り多レベル通信路は，限定大きさ誤り(Limited-Magnitude Error)モデルの1つであり，フラッシュメモリの誤りモデルと関係深い．$d=1$の1次元の場合，この通信路のゼロエラー容量は，対応する混同グラフが理想グラフ(perfect graph)になるため厳密に求まる．しかし，$d ge 2$の場合，同通信路の厳密なゼロエラー容量は知られておらず，その導出は自明な問題ではない．本研究では，完全リー符号に関する既知の結果を利用して同通信路のゼロエラー容量の下界を導く．さらに混同グラフに基づき定義される線形計画問題のひとつの実行可能解から同通信路のゼロエラー容量の上界を示す．この両者の結果から，$n$(シンボルのアルファベットサイズ)に関して漸近的に緊密な最隣接点誤り多レベル通信路のゼロエラー容量$Gamma(W) = d log_2 n + log_2 left(1/(2d+1) + mathcal{O}left(n^{-1}right)right)$が導かれる． |
| （英） | This paper evaluates the zero error capacity of Nearest Neighbor Error channels with multilevel alphabet (NNE channels). In the NNE channels, a transmitted sequence that is a $d$-tuple of a transmission alphabet. Only one error to a nearest neighbor symbol in a transmitted sequence can occur. The NNE channels can be considered as a limited magnitude error model, and closely relate to error models of flash memories. When $d=1$, the confusion graph of this channel is a perfect graph. Therefore the zero error capacity of this channel can be exactly evaluated. If $d ge 2$, the zero error capacity of these channels remains to be open. In this paper, we derive a lower bound of the zero error capacity of the NNE channels based on a result of the perfect Lee codes. The upper bound of the zero error capacity is derived from a feasible solution of a linear programming problem defined based on the confusion graph. As a result, a formula of the zero error capacity $Gamma(W) = d log_2 n + log_2 left(1/(2d+1) + mathcal{O}left(n^{-1}right)right)$ is obtained using the lower and upper bounds. | |
| キーワード | （和） | ゼロエラー容量 / フラッシュメモリ / 完全リー符号 / / / / / |
| （英） | Zero-error Capacity / Limited-Magnitude Error / Perfect Lee Code / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 500, IT2015-130, pp. 175-180, 2016年3月. | |
| 資料番号 | IT2015-130 | |
| 発行日 | 2016-03-03 (IT, ISEC, WBS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | IT2015-130 ISEC2015-89 WBS2015-113 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IT ISEC WBS |
| 開催期間 | 2016-03-10 - 2016-03-11 |
| 開催地（和） | 電気通信大学 |
| 開催地（英） | The University of Electro-Communications |
| テーマ（和） | IT・ISEC・WBS合同研究会 |
| テーマ（英） | joint meeting of IT, ISEC, and WBS |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | IT |
| 会議コード | 2016-03-IT-ISEC-WBS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 最隣接点誤り多レベル通信路のゼロエラー容量の漸近評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Asymptotics Zero Error Capacity on Nearest Neighbor Error Channels with Multilevel Alphabet |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ゼロエラー容量 / Zero-error Capacity |
| キーワード(2)（和/英） | フラッシュメモリ / Limited-Magnitude Error |
| キーワード(3)（和/英） | 完全リー符号 / Perfect Lee Code |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中野 貴文 / Takafumi Nakano / ナカノ タカフミ |
| 第1著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of technology (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田山 正 / Tadashi Wadayama / タダシ ワダヤマ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of technology (略称： NIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2016-03-11 11:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | IT |
| 資料番号 | IT2015-130, ISEC2015-89, WBS2015-113 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.500(IT), no.501(ISEC), no.502(WBS) |
| ページ範囲 | pp.175-180 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-03-03 (IT, ISEC, WBS) |
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