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講演抄録/キーワード
講演名 2016-03-01 17:30
[記念講演]サブスレッショルド領域で動作するラッチ回路の動作安定性解析
鎌苅竜也塩見 準石原 亨小野寺秀俊京大VLD2015-131
抄録 (和) 多くの記憶素子の基本要素として利用されるラッチ回路は集積回路設計にかかせない重要な回路である.
本稿は,ラッチ回路の一つであるクロスカップルドインバータを対象として解析を行う.
動作安定性の解析のためにラッチ回路のバタフライカーブ特性に注目する.
解析的なアプローチから,極低電圧領域におけるバタフライカーブ特性を近似的に表現し,動作安定性を精度よく解析する手法を提案する.
その後,商用 28-nmプロセスのトランジスタモデルを用いたモンテ・カルロシミュレーションによる検証実験を行い,提案する解析手法の有効性を示す.
また,提案する解析手法からわかる低電圧安定動作のためのラッチ回路の設計指針を示す. 
(英) A cross-coupled inverter which is an essential element of on-chip memory subsystems plays an important role in synchronous LSI circuits.
In this paper, an analytical stability model for a cross-coupled inverter operating in a sub-threshold voltage region is proposed.
The proposed model analytically shows that the minimum operating voltage of the cross-coupled inverter distributes normally in a high-$sigma$ region if the distribution of the threshold voltage is Gaussian.
The minimum supply voltage at which the yield of the cross-coupled inverter becomes a specific value can be accurately derived by a simple calculation using the model. Monte-Carlo simulation assuming a commercial 28~nm process technology demonstrates the accuracy and the validity of the proposed model.
Based on the model, this paper shows strategies for variation tolerant memory design.
キーワード (和) ラッチ回路 / 歩留まり / 動作安定性 / 解析モデル / サブスレッショルド領域 / / /  
(英) Cross-coupled Inverter / Yield / Sability / Analytical Model / Sub-Threshold Voltage / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 465, VLD2015-131, pp. 117-117, 2016年2月.
資料番号 VLD2015-131 
発行日 2016-02-22 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2015-131

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2016-02-29 - 2016-03-02 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2016-02-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) サブスレッショルド領域で動作するラッチ回路の動作安定性解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Closed-Form Stability Model for Cross-Coupled Inverters Operating in Sub-Threshold Voltage Region 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ラッチ回路 / Cross-coupled Inverter  
キーワード(2)(和/英) 歩留まり / Yield  
キーワード(3)(和/英) 動作安定性 / Sability  
キーワード(4)(和/英) 解析モデル / Analytical Model  
キーワード(5)(和/英) サブスレッショルド領域 / Sub-Threshold Voltage  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鎌苅 竜也 / Tatsuya Kamakari / カマカリ タツヤ
第1著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 塩見 準 / Jun Shiomi / シオミ ジュン
第2著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 石原 亨 / Tohru Ishihara / イシハラ トオル
第3著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ
第4著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
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講演者
発表日時 2016-03-01 17:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2015-131 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.465 
ページ範囲 p.117 
ページ数 IEICE-1 
発行日 IEICE-VLD-2016-02-22 


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