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講演抄録/キーワード
講演名 2016-02-19 13:20
ナノマニピュレーターを用いたコネクタ接点における接触構造と接触抵抗変化の挙動解析
豊泉 隼大沼雅則近藤貴哉矢崎部品)・森 喜久男矢崎総業)・清水哲夫川端澄子渡 邉 騎通産総研エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2015-93
抄録 (和) コネクタの小型化を実現するために、スズめっきの低接触荷重での接触現象を理解することがより重要になってきている。スズめっきの接触構造と接触抵抗の関係を明確にするため、スズめっきを用いた研究は多く行われているが、接点界面の構造の複雑さがメカニズム解明を困難にしている。そこで、我々はスズ表面にある酸化膜の影響を表面化学の手法を用いてナノスケールでの実験及び観察を行った。我々の過去の研究より、ナノスケール観察の手法にて酸化スズのクラックからのスズの噴き出しを実験的に確認することができた。そこで今回はスズの噴き出し量と抵抗値の相関について解析をすすめた。その結果、接触抵抗は見かけの接触面積ではなく、スズの噴き出し面積の増加と電気電導性との相関が良いことが分かった。また、ナノマニピュレーター技術は基礎研究の物性評価に留まらず自動車に搭載することを目指したコネクタの研究にも有効であることが分かった。 
(英) The indentation using tin oxide film which was deposited on tin substrate was executed by a tungsten probe whose curvature was about 5 micro meter in radius with a nano-manipulator in Scanning Electron Microscope. We measured contact resistance and the load force simultaneously, found cracks of tin oxide layer and tin penetration into the cracks and investigated in detail the correlation between indented surface morphology and electrical resistance characteristics with respect to load force by changing indentation depth. In case of 100 nm oxide film, abrupt electrical resistance decrease was observed by applying load force about 1.0x10-3N. The increase of tin penetration area on indented surface correlated with the abrupt electrical resistance decrease. This directly indicated that tin penetration into the cracks and tin appearances on the oxide surface were crucial phenomena for reliable electrical contact. Nano-manipulator used in this study was a powerful instrument for basic research of electrical contacts and realization of the miniaturized and lower load force connector.
キーワード (和) 電気接点 / ナノマニュピレータ / 走査型電子顕微鏡 / 収束イオンビーム / / / /  
(英) lectrical contact / nano-indentation manipulator / scanning electron microscope / focused ion beam / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 455, EMD2015-93, pp. 1-6, 2016年2月.
資料番号 EMD2015-93 
発行日 2016-02-12 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2016-02-19 - 2016-02-19 
開催地(和) あざれあ(静岡市) 
開催地(英) Azarea,Shizuoka 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2016-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ナノマニピュレーターを用いたコネクタ接点における接触構造と接触抵抗変化の挙動解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Investigation of Electrical Contacts on a Nanometer Scale using a Nano-manipulator in Scanning Electron Microscope 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / lectrical contact  
キーワード(2)(和/英) ナノマニュピレータ / nano-indentation manipulator  
キーワード(3)(和/英) 走査型電子顕微鏡 / scanning electron microscope  
キーワード(4)(和/英) 収束イオンビーム / focused ion beam  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊泉 隼 / Jun Toyoizumi / トヨイズミ ジュン
第1著者 所属(和/英) 矢崎部品株式会社 (略称: 矢崎部品)
Yazaki Parts CO., LTD (略称: yazaki)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大沼 雅則 / Masanori Onuma / オオヌマ マサノリ
第2著者 所属(和/英) 矢崎部品株式会社 (略称: 矢崎部品)
Yazaki Parts CO., LTD (略称: yazaki)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 近藤 貴哉 / Takaya Kondo / コンドウ タカヤ
第3著者 所属(和/英) 矢崎部品株式会社 (略称: 矢崎部品)
Yazaki Parts CO., LTD (略称: yazaki)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 喜久男 / Kikuo Mori / モリ キクオ
第4著者 所属(和/英) 矢崎総業株式会社 (略称: 矢崎総業)
Yazaki Corporation (略称: yazaki)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 清水 哲夫 / Tetsuo Shimizu / シミズ テツオ
第5著者 所属(和/英) 国立研究開発法人産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 川端 澄子 / Sumiko Kawabata / カワバタ スミコ
第6著者 所属(和/英) 国立研究開発法人産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡 邉 騎通 / Norimichi Watanabe / ワタナベ ノリミチ
第7著者 所属(和/英) 国立研究開発法人産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
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講演者
発表日時 2016-02-19 13:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2015-65,IEICE-EMD2015-93 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.454(R), no.455(EMD) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2016-02-12,IEICE-EMD-2016-02-12 


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