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講演抄録/キーワード
講演名 2016-02-17 10:25
論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大
抄録 (和) スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロックパスの両方へのIR-Dropの影響を調整することによって、高品質なキャプチャ電力安全型実速度スキャンテストを実現するためのテスト生成手法について述べ、大規模ベンチマーク回路を用いた実験結果でその有効性を示す。 
(英) Both logic paths and clock paths are subject to the impact of IR-Drop which occurs in capture mode during scan test. This paper describes a new method for generating high-quality capture-power-safe at-speed scan test vectors by adjusting the impact of IR-Drop on both logic and clock paths. Experimental results on large benchmark circuits have shown the effectiveness of the proposed method.
キーワード (和) 実速度スキャンテスト / IRドロップ / クロックストレッチ / キャプチャ電力安全性 / テスト品質 / / /  
(英) At-Speed Scan Test / IR-Drop / Clock Stretch / Capture-Power-Safety / Test Quality / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 449, DC2015-87, pp. 7-12, 2016年2月.
資料番号 DC2015-87 
発行日 2016-02-10 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2016-02-17 - 2016-02-17 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテスト 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2016-02-DC 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 実速度スキャンテスト / At-Speed Scan Test  
キーワード(2)(和/英) IRドロップ / IR-Drop  
キーワード(3)(和/英) クロックストレッチ / Clock Stretch  
キーワード(4)(和/英) キャプチャ電力安全性 / Capture-Power-Safety  
キーワード(5)(和/英) テスト品質 / Test Quality  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 李 富強 / Fuqiang Li / リ フキョウ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) ホルスト シュテファン / Stefan Holst / ホルスト シュテファン
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コヘイ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: Kyutech)
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講演者
発表日時 2016-02-17 10:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2015-87 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.449 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2016-02-10 


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