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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-18 15:55 統計的コンパレータを用いたアナログ-ディジタル変換回路の性能解析 ○モハンマド マルフ ホサイン・飯塚哲也・名倉 徹・浅田邦博（東大）  ICD2015-93 CPSY2015-106 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2015-93 |
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| 抄録 | （和） | 統計的コンパレータのランダムなオフセット電圧ばらつきを解析し，統計的コンパレータを用いたアナログ－ディジタル変換回路（ADC）の性能評価モデルを提案した．まず，統計的コンパレータの分解能と他のパラメータの関係を確率密度関数で表現した．そして，統計的コンパレータの歩留まりを計算するために各デザインパラメータと性能の関係を導いた．このときに，複雑な厳密計算を避け，出力コードの各アナログステップ間の相関を無視する近似を用いることで解析的なモデル構築を行った．そして，モンテカルロシミュレーションにより，計算結果の妥当性を確認した．歩留まりが0.8以上という現実的な値ではこのパフォーマンスモデルは統計的ADCの正確な歩留まりを計算できることを示した．この結果を用いて，キャリブレーションを行うADCとキャリブレーションを行わないADCの性能を定量的に比較し，キャリブレーションによりADCの分解能を約２ビット改善できることを示した． |
| （英） | A performance model for Analog to Digital Converter (ADC) based on stochastic comparator has been proposed by analyzing the random variation in comparator offset voltage. First, a Probability Density Function (PDF) has been formulated to establish the relation among different design parameters and the resolution of a stochastic comparator. Then, this PDF is used to calculate the yield of the ADC. We have avoided complex rigorous analysis by ignoring the correlation among the analog steps of the ADC output code. The validity of this model is then verified by performing Monte Carlo simulation. For a practical value of yield $>$ 0.8, this model precisely calculates the yield of an ADC based on stochastic comparator. Applying this method to quantitatively compare the performance of a calibrated ADC and a non-calibrated one reveals that calibration can improve the resolution of the ADC by approximately 2 bits. | |
| キーワード | （和） | 統計的コンパレータ / ADC / 確率密度関数 / 歩留まり / キャリブレーション / / / |
| （英） | Stochastic comparator / ADC / Probability Density Function / yield / calibration / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-93, pp. 123-128, 2015年12月. | |
| 資料番号 | ICD2015-93 | |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2015-93 CPSY2015-106 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2015-93 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPSY |
| 開催期間 | 2015-12-17 - 2015-12-18 |
| 開催地（和） | 京都工芸繊維大学 |
| 開催地（英） | Kyoto Institute of Technology |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2015-12-ICD-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 統計的コンパレータを用いたアナログ-ディジタル変換回路の性能解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Performance Analysis of Analog to Digital Converter Based on Stochastic Comparator |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 統計的コンパレータ / Stochastic comparator |
| キーワード(2)（和/英） | ADC / ADC |
| キーワード(3)（和/英） | 確率密度関数 / Probability Density Function |
| キーワード(4)（和/英） | 歩留まり / yield |
| キーワード(5)（和/英） | キャリブレーション / calibration |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | モハンマド マルフ ホサイン / Md. Maruf Hossain / モハンマド マルフ ホサイン |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Tokyo University) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯塚 哲也 / Tetsuya Iizuka / イイヅカ テツヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Tokyo University) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 名倉 徹 / Toru Nakura / ナクラ トル |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Tokyo University) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) The University of Tokyo (略称： Tokyo University) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-18 15:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2015-93, CPSY2015-106 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.373(ICD), no.374(CPSY) |
| ページ範囲 | pp.123-128 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) |
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