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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-18 09:25 Substrate Noise Isolation Improvement by Helium-3 Ion Irradiation Technique in a Triple-well CMOS Process ○Ning Li（Tokyo Tech）・Takeshi Inoue（S.H.I.Examination & Inspection）・Takuichi Hirano・Jian Pang・Rui Wu・Kenichi Okada（Tokyo Tech）・Hitoshi Sakane（S.H.I.Examination & Inspection）・Akira Matsuzawa（Tokyo Tech）  ICD2015-84 CPSY2015-97 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2015-84 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-84, pp. 75-80, 2015年12月. | |
| 資料番号 | ICD2015-84 | |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2015-84 CPSY2015-97 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2015-84 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPSY |
| 開催期間 | 2015-12-17 - 2015-12-18 |
| 開催地（和） | 京都工芸繊維大学 |
| 開催地（英） | Kyoto Institute of Technology |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2015-12-ICD-CPSY |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Substrate Noise Isolation Improvement by Helium-3 Ion Irradiation Technique in a Triple-well CMOS Process |
| サブタイトル（英） | |
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| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 李 寧 / Ning Li / |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 剛 / Takeshi Inoue / |
| 第2著者 所属（和/英） | 住重試験検査株式会社 (略称： 住重試験検査) S.H.I.Examination & Inspection, Ltd., (略称： S.H.I.Examination & Inspection) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 平野 拓一 / Takuichi Hirano / |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | ポアン 健 / Jian Pang / |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 呉 ルイ / Rui Wu / |
| 第5著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岡田 健一 / Kenichi Okada / |
| 第6著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂根 仁 / Hitoshi Sakane / |
| 第7著者 所属（和/英） | 住重試験検査株式会社 (略称： 住重試験検査) S.H.I.Examination & Inspection, Ltd., (略称： S.H.I.Examination & Inspection) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松澤 昭 / Akira Matsuzawa / |
| 第8著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-18 09:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2015-84, CPSY2015-97 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.373(ICD), no.374(CPSY) |
| ページ範囲 | pp.75-80 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) |
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