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講演抄録/キーワード
講演名 2015-12-18 13:20
デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について
三宅庸資加藤隆明糸永卓矢佐藤康夫梶原誠司九工大
抄録 (和) VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている.このデジタルモニタは,一般的なアナログ回路によるモニタと比較して,測定時間が短いため測定結果をリアルタイムにシステムへ反映でき,また,CPU等の測定したい箇所の近くに配置できる利点がある.本論文では,デジタルモニタを実装したテストチップを用いてチップ内温度電圧の時間的な変動や空間的な変動を測定し,短時間測定が可能かつ小規模なデジタルモニタの有効性について検討する. 
(英) A digital monitor for measuring a temperature and a voltage of VLSIs is proposed. The monitor can derive measurement results in real time, because the measurement time of the monitor is shorter than that of conventional monitors using analog circuits. Moreover, there is an advantage that the proposed monitor can be placed close to the circuit under test such as a CPU. This paper discusses temporal and spatial variations in the on-chip temperature and voltage which are measured using the monitor. Then, this paper discusses the need of the digital monitor, which is a full digital design, short time measurement and a small chip area, using a fabricated test chip with 180 nm CMOS technology.
キーワード (和) 温度モニタ / 電圧モニタ / リングオシレータ / 完全デジタル設計 / フィールドテスト / / /  
(英) Temperature monitor / Voltage monitor / Ring Oscillator / Fully digital design / Field test / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 382, DC2015-74, pp. 5-10, 2015年12月.
資料番号 DC2015-74 
発行日 2015-12-11 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2015-12-18 - 2015-12-18 
開催地(和) クリエート村上(村上市) 
開催地(英) Kurieito Mulakami (Murakami City) 
テーマ(和) 安全性・一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2015-12-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On Measurement of On-Chip Temperature And Voltage Variation Using A Digital Monitor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 温度モニタ / Temperature monitor  
キーワード(2)(和/英) 電圧モニタ / Voltage monitor  
キーワード(3)(和/英) リングオシレータ / Ring Oscillator  
キーワード(4)(和/英) 完全デジタル設計 / Fully digital design  
キーワード(5)(和/英) フィールドテスト / Field test  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 糸永 卓矢 / Takuya Itonaga / イトナガ タクヤ
第3著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ
第5著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者
発表日時 2015-12-18 13:20:00 
発表時間 20 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-DC2015-74 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.382 
ページ範囲 pp.5-10 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-DC-2015-12-11 


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