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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2015-12-17 16:00 ［ポスター講演］誤り訂正符号の影響を考慮したソリッド・ステート・ドライブの性能評価 ○山賀祐典・徳富 司・小林惇朗・竹内 健（中大）  ICD2015-71 CPSY2015-84 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2015-71 |
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| 抄録 | （和） | NAND型フラッシュメモリを用いたソリッド・ステート・ドライブ(SSD)では、誤り訂正符号によって信頼性が保障されている。従来様々な誤り訂正符号が提案されているが、訂正能力の高い誤り訂正符号は復号に時間がかかるため、NAND型フラッシュメモリに用いた場合性能低下を引き起こす。また、SSDはデータを上書き出来ないという特性上、有効データがあるページにデータを書き込む際や空き領域の確保を行う際に、読み出し動作が必要となる。読み出し動作が頻発すると、それに伴い復号遅延が増加する。本論文ではSSDシミュレーターを用いることで、従来提案されている様々な誤り訂正符号に対する信頼性と性能の関係性を調査した。 |
| （英） | In the NAND flash memory based solid-state drives (SSDs), reliability is guaranteed by error correcting code (ECC). Conventional ECCs, which has higher error correction capability, causes performance degradation due to the longer ECC decoding time. Since in-place overwriting is prohibited in NAND flash, multiple read operations are required during the write in valid pages and reclaiming the free space. As a result, ECC decoding time is increased due to the frequently read operations. In this paper, the relation between performance and reliability is investigated for conventional ECCs by utilizing the SSD simulator. | |
| キーワード | （和） | NAND型フラッシュメモリ / ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / 誤り訂正符号 / / / / / |
| （英） | NAND flash memory / Solid-State-Drives (SSDs) / Error correction code (ECC) / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-71, pp. 41-41, 2015年12月. | |
| 資料番号 | ICD2015-71 | |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2015-71 CPSY2015-84 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2015-71 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPSY |
| 開催期間 | 2015-12-17 - 2015-12-18 |
| 開催地（和） | 京都工芸繊維大学 |
| 開催地（英） | Kyoto Institute of Technology |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2015-12-ICD-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 誤り訂正符号の影響を考慮したソリッド・ステート・ドライブの性能評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Performance Evaluation of Solid-State-Drives (SSDs) by Considering the effect of Error-correcting code |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | NAND型フラッシュメモリ / NAND flash memory |
| キーワード(2)（和/英） | ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / Solid-State-Drives (SSDs) |
| キーワード(3)（和/英） | 誤り訂正符号 / Error correction code (ECC) |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山賀 祐典 / Yusuke Yamaga / ヤマガ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 徳富 司 / Tsukasa Tokutomi / トクトミ ツカサ |
| 第2著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 惇朗 / Atsuro Kobayashi / コバヤシ アツロウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン |
| 第4著者 所属（和/英） | 中央大学 (略称： 中大) Chuo University (略称： Chuo Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-12-17 16:00:00 |
| 発表時間 | 100分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2015-71, CPSY2015-84 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.373(ICD), no.374(CPSY) |
| ページ範囲 | p.41 |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) |
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