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講演抄録/キーワード
講演名
2015-12-14 14:30
CrSiNの磁気特性測定
○
志賀春紀
・
宮村祥吾
・
今西恒太
・
符川明日香
・
木村 睦
・
松田時宜
(
龍谷大
)・
廣島 安
(
KOA
)
EID2015-18 SDM2015-101
エレソ技報アーカイブへのリンク:
EID2015-18
SDM2015-101
抄録
(和)
(まだ登録されていません)
(英)
(Not available yet)
キーワード
(和)
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(英)
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文献情報
信学技報, vol. 115, no. 362, EID2015-18, pp. 39-42, 2015年12月.
資料番号
EID2015-18
発行日
2015-12-07 (EID, SDM)
ISSN
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
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EID2015-18 SDM2015-101
エレソ技報アーカイブへのリンク:
EID2015-18
SDM2015-101
研究会情報
研究会
EID SDM
開催期間
2015-12-14 - 2015-12-14
開催地(和)
龍谷大学 響都ホール 校友会館
開催地(英)
Ryukoku University, Avanti Kyoto Hall
テーマ(和)
シリコン関連材料の作製と評価およびディスプレイ技術
テーマ(英)
Si and Si-related Materials and Devices, and Display Technology
講演論文情報の詳細
申込み研究会
EID
会議コード
2015-12-EID-SDM
本文の言語
日本語
タイトル(和)
CrSiNの磁気特性測定
サブタイトル(和)
タイトル(英)
Magnetic characteristic measurement of Cr-Si-N
サブタイトル(英)
キーワード(1)(和/英)
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キーワード(2)(和/英)
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キーワード(3)(和/英)
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キーワード(4)(和/英)
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キーワード(5)(和/英)
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キーワード(6)(和/英)
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キーワード(7)(和/英)
/
キーワード(8)(和/英)
/
第1著者 氏名(和/英/ヨミ)
志賀 春紀
/
Haruki Shiga
/
シガ ハルキ
第1著者 所属(和/英)
龍谷大学
(略称:
龍谷大
)
Ryukoku University
(略称:
Ryukoku Univ.
)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ)
宮村 祥吾
/
Shogo Miyamura
/
ミヤムラ ショウゴ
第2著者 所属(和/英)
龍谷大学
(略称:
龍谷大
)
Ryukoku University
(略称:
Ryukoku Univ.
)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ)
今西 恒太
/
Kota Imanishi
/
イマニシ コウタ
第3著者 所属(和/英)
龍谷大学
(略称:
龍谷大
)
Ryukoku University
(略称:
Ryukoku Univ.
)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ)
符川 明日香
/
Asuka Hukawa
/
フカワ アスカ
第4著者 所属(和/英)
龍谷大学
(略称:
龍谷大
)
Ryukoku University
(略称:
Ryukoku Univ.
)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ)
木村 睦
/
Mutsumi Kimura
/
キムラ ムツミ
第5著者 所属(和/英)
龍谷大学
(略称:
龍谷大
)
Ryukoku University
(略称:
Ryukoku Univ.
)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ)
松田 時宜
/
Tokiyoshi Matsuda
/
マツダ トキヨシ
第6著者 所属(和/英)
龍谷大学
(略称:
龍谷大
)
Ryukoku University
(略称:
Ryukoku Univ.
)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ)
廣島 安
/
Yashushi Hiroshima
/
ヒロシマ ヤスシ
第7著者 所属(和/英)
KOA株式会社
(略称:
KOA
)
KOA
(略称:
KOA
)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第8著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第9著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第10著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第11著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第12著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第13著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第14著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第15著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第16著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ)
/ /
第17著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第18著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第19著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ)
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第20著者 所属(和/英)
(略称: )
(略称: )
講演者
第1著者
発表日時
2015-12-14 14:30:00
発表時間
15分
申込先研究会
EID
資料番号
EID2015-18, SDM2015-101
巻番号(vol)
vol.115
号番号(no)
no.362(EID), no.363(SDM)
ページ範囲
pp.39-42
ページ数
4
発行日
2015-12-07 (EID, SDM)
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