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講演抄録/キーワード
講演名 2015-12-02 15:55
15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計
田島咲季史 又華戸川 望柳澤政生早大
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抄録 (和) 近年の微細化により,ソフトエラーによる信頼性低下が問題視されている.
従来,DICEやフリップフロップの多重化といった耐ソフトエラー技術が提案されてきた.
電力制約はさらに厳しさをます中,低電力で高耐性をもつ技術の研究が急務となっている.
本研究では,低電力な耐ソフトエラーラッチであるNew-SEHラッチをNCSU15nmのPDKを用い,実装・評価を行う.
SEHラッチと比較し,最大で84.39%の電力削減効果を達成した. 
(英) In recent technology scaling, reliability of integrated circuits due to a soft error is becoming more critical than ever before.
In literature, several soft error tolerant techniques have been proposed.
However due to the power constraints, new techniques for high-tolerant and low-power are needed.
In this paper, we propose a New-SEH latch design, and implement it in NCSU 15nm technology.
The simulation results show that the proposed latch obtains up to 84.39$%$ power reduction compared to SEH latch.
キーワード (和) 消費電力 / 耐ソフトエラーラッチ / Soft Error Hardened (SEH)ラッチ / ソフトエラー / / / /  
(英) Power / Soft Error Hardened (SEH) Latch / Soft error / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 338, VLD2015-56, pp. 123-127, 2015年12月.
資料番号 VLD2015-56 
発行日 2015-11-24 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2015-12-01 - 2015-12-03 
開催地(和) 長崎県勤労福祉会館 
開催地(英) Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan 
テーマ(和) デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 15nmプロセスにおける低電力な耐ソフトエラーラッチの設計 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A low-power soft error tolerant latch scheme on 15nm process 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 消費電力 / Power  
キーワード(2)(和/英) 耐ソフトエラーラッチ / Soft Error Hardened (SEH) Latch  
キーワード(3)(和/英) Soft Error Hardened (SEH)ラッチ / Soft error  
キーワード(4)(和/英) ソフトエラー /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田島 咲季 / Saki Tajima / タジマ サキ
第1著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 史 又華 / Youhua Shi / シ ヨウカ
第2著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム
第3著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ
第4著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
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講演者
発表日時 2015-12-02 15:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-VLD2015-56,IEICE-DC2015-52 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.338(VLD), no.339(DC) 
ページ範囲 pp.123-127 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-VLD-2015-11-24,IEICE-DC-2015-11-24 


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