講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-12-01 13:50
メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成 ○上岡真也・米田友和・大和勇太・井上美智子(奈良先端大) VLD2015-40 DC2015-36 |
抄録 |
(和) |
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) とは,隣接するメモリセルの値や遷移に起因する故障モデルで,集積度の高い現在のメモリでは重要な故障モデルとして知られている.NPSFを検出するテストの一手法であるマルチバックグラウンドマーチテストは,マーチテストといくつかのバックグラウンド (Background : BG) を組合せたテストである.本研究ではNPSFを検出するマルチバックグラウンドマーチテストのテスト長の削減を目的とする.提案手法は,テストで使用するBGの順序と検出される故障の関係に着目して,冗長なBGを削減したBG列を自動生成する.実験結果ではNPSFを検出するBG列が自動生成可能であることを示す.またBG列を自動生成することで,BG数制約下で高い故障検出率を持つBG列が生成可能であることを示す. |
(英) |
The Neighborhood Pattern Sensitive Fault (NPSF) is widely discussed fault model for memories, and it occurs when a memory cell is influenced by a certain pattern of its neiborhood cells in the memory. The multi-background march test is one of test methods for NPSF, and it consists of several backgrounds and an operation sequence. However, the existing multi-background march tests are manually generated by experts to detect all NPSFs. The purpose of this paper is to reduce the test length of multi-background march test, and we present an automatic generation method of background sequence that removes redundant backgrounds by taking the relation between order of background and detected faults into account. Experimental results show that the proposed method can automatically generate the background pattern sequence for NPSF, and reaches high fault coverage under sequence length constraint. |
キーワード |
(和) |
ランダムアクセスメモリ / メモリBIST / 隣接パタン依存故障 / マーチテスト / / / / |
(英) |
Random access memory / Memory BIST / Neighborhood pattern sensitive fault / March test / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 115, no. 339, DC2015-36, pp. 19-24, 2015年12月. |
資料番号 |
DC2015-36 |
発行日 |
2015-11-24 (VLD, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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VLD2015-40 DC2015-36 |