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講演抄録/キーワード
講演名 2015-12-01 14:15
遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討
森 亮介四柳浩之橋爪正樹徳島大
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文献情報 信学技報, vol. 115, no. 339, DC2015-37, pp. 25-30, 2015年12月.
資料番号 DC2015-37 
発行日 2015-11-24 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2015-12-01 - 2015-12-03 
開催地(和) 長崎県勤労福祉会館 
開催地(英) Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan 
テーマ(和) デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A study on multiple path selection conditions in delay testing using design-for-testability circuit 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 亮介 / Mori Ryosuke / モリ リョウスケ
第1著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Yotsuyanagi Hiroyuki / ヨツヤナギ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Hashizume Masaki / ハシヅメ マサキ
第3著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
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講演者
発表日時 2015-12-01 14:15:00 
発表時間 25 
申込先研究会 DC 
資料番号 IEICE-VLD2015-41,IEICE-DC2015-37 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.338(VLD), no.339(DC) 
ページ範囲 pp.25-30 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2015-11-24,IEICE-DC-2015-11-24 


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