研究会情報 |
研究会 |
VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
開催期間 |
2015-12-01 - 2015-12-03 |
開催地(和) |
長崎県勤労福祉会館 |
開催地(英) |
Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
テーマ(和) |
デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
テーマ(英) |
Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
DC |
会議コード |
2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
遅延故障検査容易化回路を用いる同時検査対象経路選択条件の検討 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
A study on multiple path selection conditions in delay testing using design-for-testability circuit |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森 亮介 / Mori Ryosuke / モリ リョウスケ |
第1著者 所属(和/英) |
徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
四柳 浩之 / Yotsuyanagi Hiroyuki / ヨツヤナギ ヒロユキ |
第2著者 所属(和/英) |
徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
橋爪 正樹 / Hashizume Masaki / ハシヅメ マサキ |
第3著者 所属(和/英) |
徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第4著者 所属(和/英) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2015-12-01 14:15:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
DC |
資料番号 |
VLD2015-41, DC2015-37 |
巻番号(vol) |
vol.115 |
号番号(no) |
no.338(VLD), no.339(DC) |
ページ範囲 |
pp.25-30 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2015-11-24 (VLD, DC) |