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講演抄録/キーワード
講演名 2015-12-01 14:40
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-42 DC2015-38
抄録 (和) IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響による遅延変動も存在するため,故障の判別は困難になる.隣接配線を持つ配線の信号遅延は,隣接線での信号遷移の影響を受け,また,その遅延変動は故障の有無によっても異なる.本研究では,複数の入力信号に対する遅延の分布を用いて故障判別を行う手法を検討する.電磁界および回路シミュレータを用いて隣接線を持つ配線レイアウトを作製し,隣接線の信号遷移パターンを変化させた際の正常回路と故障回路におけるそれぞれの遅延量を測定する.その遅延量を特徴量とする異常検知による製造ばらつきの影響下での半断線故障の判別法の有効性について調査を行う. 
(英) The effect of a resistive open results in small delay in an IC. It is difficult to test small delay since signal delay also varies by parameter variations such as transistor size. Signal delay of a line with adjacent lines is affected by the signal transition of the adjacent lines. Moreover, the delay variation also depends on the existence of a fault. In this study, a discrimination method is proposed that utilizes delay distributions obtained by the various input signals. We examined the circuit delay in a fault-free circuit and a faulty circuit by applying electromagnetic simulator and circuit simulatior for a line layout with adjacent lines. We investigate the effectiveness of the method that discriminates a resistive open using anomaly detection from delays obtained by the simulation.
キーワード (和) 半断線故障 / 隣接線 / 信号遷移 / / / / /  
(英) resistive open fault / adjacent line / signal transition / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 339, DC2015-38, pp. 31-36, 2015年12月.
資料番号 DC2015-38 
発行日 2015-11-24 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2015-42 DC2015-38

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2015-12-01 - 2015-12-03 
開催地(和) 長崎県勤労福祉会館 
開催地(英) Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan 
テーマ(和) デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2015-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On discrimination method of a resistive open using delay variation induced by signal transitions on adjacent lines 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 半断線故障 / resistive open fault  
キーワード(2)(和/英) 隣接線 / adjacent line  
キーワード(3)(和/英) 信号遷移 / signal transition  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊勢 幸太郎 / Kotaro Ise / イセ コウタロウ
第1著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ
第3著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第4著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第5著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-12-01 14:40:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2015-42, DC2015-38 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.338(VLD), no.339(DC) 
ページ範囲 pp.31-36 
ページ数
発行日 2015-11-24 (VLD, DC) 


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