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講演抄録/キーワード
講演名 2015-11-26 09:40
データ接続状態監視に基づく上り品質劣化検知
泉川晴紀廣田祐生花野博司小野智弘KDDI研
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 115, no. 327, CQ2015-76, pp. 7-11, 2015年11月.
資料番号 CQ2015-76 
発行日 2015-11-19 (CQ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 CQ ICM NS  
開催期間 2015-11-26 - 2015-11-27 
開催地(和) 新潟大学 
開催地(英) Niigata University 
テーマ(和) ネットワーク品質,ネットワーク計測・管理,ネットワーク仮想化,ネットワークサービス,および一般 
テーマ(英) Network Quality, Network Measurement and Management, Network Virtualization, Network Service, General 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CQ 
会議コード 2015-11-CQ-ICM-NS 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) データ接続状態監視に基づく上り品質劣化検知 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Uplink Poor Performance Detection for LTE System Based on State Monitoring in Data Connection 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 泉川 晴紀 / Haruki Izumikawa / イズミカワ ハルキ
第1著者 所属(和/英) 株式会社KDDI研究所 (略称: KDDI研)
KDDI R&D Laboratories (略称: KDDI Labs)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 廣田 祐生 / Yuki Hirota / ヒロタ ユウキ
第2著者 所属(和/英) 株式会社KDDI研究所 (略称: KDDI研)
KDDI R&D Laboratories (略称: KDDI Labs)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 花野 博司 / Hiroshi Hanano / ハナノ ヒロシ
第3著者 所属(和/英) 株式会社KDDI研究所 (略称: KDDI研)
KDDI R&D Laboratories (略称: KDDI Labs)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小野 智弘 / Chihiro Ono / オノ チヒロ
第4著者 所属(和/英) 株式会社KDDI研究所 (略称: KDDI研)
KDDI R&D Laboratories (略称: KDDI Labs)
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講演者
発表日時 2015-11-26 09:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 CQ 
資料番号 IEICE-CQ2015-76 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.327 
ページ範囲 pp.7-11 
ページ数 IEICE-5 
発行日 IEICE-CQ-2015-11-19 


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