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講演抄録/キーワード
講演名 2015-11-19 14:25
ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法
益田 昇安永守利筑波大
技報オンラインサービス実施中
抄録 (和) 中性子線による半導体集積回路のソフトエラーでは1 粒子の中性子線が複数の回路に同時にエラーを起こす場合があり,これを対策するためには同時にエラーが発生し得る空間的範囲を把握する必要がある。その範囲を実測するためには加速試験が必須であり,そのためにはエラーが発生した時にはなるべく短い時間で検知してエラーが発生したビットを特定する必要がある。普通のSRAM で各ビットをスキャンする方法では時間がかかるため,ソフトエラーの観測専用のLSI を使う方法を提案した。また,このLSI のエミュレータと観測用の制御装置をそれぞれのFPGA 上に構築し,エラーが発生してからそのビットを特定するまでの所要時間を普通のSRAM を使う場合と比べて約4000 分の1 に短縮できることを確認した。 
(英) Regarding the LSI soft error caused by the neutron beam, a single particle of neutron may cause multiple chained soft errors at once. Consequently, in order to reduce the total soft error damage, it is necessary to know the extent of the multiple chained soft errors. In the measurement of the extent, some acceleration experiment is indispensable, and it is required to detect the error bit location(s) as soon as possible after the soft errors occur. Conventional SRAMs, however, need long scanning time to locate the error bit(s). Therefore, we propose a novel LSI structure specified for the chained soft errors measurement and its measurement methodology. We fabricated an emulator of the LSI and its controller LSI using FPGAs, respectively. In the experimental measurement, it was demonstrated that the emulator reduced the location detection time of a soft error by 1/4000 compared with the conventional method.
キーワード (和) 中性子線 / ソフトエラー / 同時発生 / 加速試験 / / / /  
(英) neutron beam / soft error / multiple occurrence at once / acceleration experiment / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 313, R2015-57, pp. 5-10, 2015年11月.
資料番号 R2015-57 
発行日 2015-11-12 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2015-11-19 - 2015-11-19 
開催地(和) 大阪中央電気倶楽部 
開催地(英)  
テーマ(和) 半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2015-11-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Measurement Method for the Extent of Simultaneous Soft Errors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 中性子線 / neutron beam  
キーワード(2)(和/英) ソフトエラー / soft error  
キーワード(3)(和/英) 同時発生 / multiple occurrence at once  
キーワード(4)(和/英) 加速試験 / acceleration experiment  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 益田 昇 / Noboru Masuda / マスダ ノボル
第1著者 所属(和/英) 筑波大学 (略称: 筑波大)
University of Tsukuba (略称: Univ. of Tsukuba)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 安永 守利 / Moritoshi Yasunaga / ヤスナガ モリトシ
第2著者 所属(和/英) 筑波大学 (略称: 筑波大)
University of Tsukuba (略称: Univ. of Tsukuba)
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講演者
発表日時 2015-11-19 14:25:00 
発表時間 25 
申込先研究会 R 
資料番号 IEICE-R2015-57 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.313 
ページ範囲 pp.5-10 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2015-11-12 


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