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| 講演名 | 2015-11-05 16:25 Behavior of Terminal Resistance and Deterioration Prediction of Terminal Resistance with Connectors Used in Long Driven Vehicles ○Shigeru Sawada・Atsushi Shimizu・Yasushi Saitoh（ANtech）  EMD2015-72 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2015-72 |
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| 抄録 | （和） | It is an important issue to investigate the deterioration state of connectors used in long driven vehicles in order to develop vehicle connectors. Thus, in this study, the terminal resistance of connectors collected from vehicles (driven for eight years with 100,000km mileage and driven for 13 years with 150,000km mileage) was investigated to figure out the behavior of the deterioration state of terminals over mileage driven. From this investigation, the deterioration of connectors used in long driven vehicles was estimated to be mainly caused by fretting corrosion. According to the investigation of terminal resistance, there was no high resistant terminal that causes a reliability problem with the connectors. Using the Weibull distribution analysis, the probability of having high resistant terminals was confirmed as quite low. In addition, the terminal resistance at 200,000km mileage was estimated. |
| （英） | It is an important issue to investigate the deterioration state of connectors used in long driven vehicles in order to develop vehicle connectors. Thus, in this study, the terminal resistance of connectors collected from vehicles (driven for eight years with 100,000km mileage and driven for 13 years with 150,000km mileage) was investigated to figure out the behavior of the deterioration state of terminals over mileage driven. From this investigation, the deterioration of connectors used in long driven vehicles was estimated to be mainly caused by fretting corrosion. According to the investigation of terminal resistance, there was no high resistant terminal that causes a reliability problem with the connectors. Using the Weibull distribution analysis, the probability of having high resistant terminals was confirmed as quite low. In addition, the terminal resistance at 200,000km mileage was estimated. |
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| キーワード | （和） | コネクタ劣化 / 接触抵抗 / 車載環境 / ワイブル解析 / / / / |
| （英） | Connector Deterioration / Contact Resistance / Vehicle Environment / Weibull Analysis / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 115, no. 291, EMD2015-72, pp. 29-34, 2015年11月. | |
| 資料番号 | EMD2015-72 | |
| 発行日 | 2015-10-29 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2015-72 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2015-72 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2015-11-05 - 2015-11-06 |
| 開催地（和） | 東北大学工学部青葉記念会館 |
| 開催地（英） | Tohoku University, School of engineering, Aoba memorial hall |
| テーマ（和） | 国際セッションIS-EMD2015 (継電器・コンタクトテクノロジ研究会、東北大学サイバーサイエンスセンター 共催) |
| テーマ（英） | International Session IS-EMD2015 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2015-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Behavior of Terminal Resistance and Deterioration Prediction of Terminal Resistance with Connectors Used in Long Driven Vehicles |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | コネクタ劣化 / Connector Deterioration |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / Contact Resistance |
| キーワード(3)（和/英） | 車載環境 / Vehicle Environment |
| キーワード(4)（和/英） | ワイブル解析 / Weibull Analysis |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤田 滋 / Shigeru Sawada / サワダ シゲル |
| 第1著者 所属（和/英） | オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Ltd., (略称： ANtech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 清水 敦 / Atsushi Shimizu / シミズ アツシ |
| 第2著者 所属（和/英） | オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Ltd., (略称： ANtech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 齋藤 寧 / Yasushi Saitoh / |
| 第3著者 所属（和/英） | オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Ltd., (略称： ANtech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2015-11-05 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2015-72 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | no.291 |
| ページ範囲 | pp.29-34 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-10-29 (EMD) |
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