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講演抄録/キーワード
講演名 2015-10-22 16:20
テラヘルツ波帯における真空デバイスへの取組み
吉田 満岡本耕治増田則夫松岡順一NECネットワーク・センサ)・関根徳彦菅野敦史山本直克寳迫 巌NICTエレソ技報アーカイブへのリンク:ED2015-60
抄録 (和) 真空デバイスと光デバイスの狭間付近には、テラヘルツギャップと呼ばれる有益なデバイスのない領域が存在している。現在、真空デバイスはこの領域を補う最も有力なデバイスと考えられている。当社においても0.3THz帯(J帯)のTWTを内蔵したTPMの開発に着手しており、その前段階として計画している電子ビーム集束試験用のビームテストチューブ、FWG回路のコールドテスト、および入出力窓の整合テストの状況について報告する。 
(英) There is a region called "Terahertz Gap" between the highest frequency of microwave technology and the lowest frequency of photonic technology. At this region, the device development has been one of major issues on R&D. Recently, vacuum electronics devices, especially as high power THz sources, hold the potential for innovational progress in various applications. We report the development activity of 0.3 THz TPM with FWG-TWT in this region.
キーワード (和) テラヘルツ / 真空デバイス / 進行波管 / TPM / 増幅器 / / /  
(英) Terahertz / Vacuum Electronics / TWT / TPM / Amplifier / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 264, ED2015-60, pp. 31-34, 2015年10月.
資料番号 ED2015-60 
発行日 2015-10-15 (ED) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 ED  
開催期間 2015-10-22 - 2015-10-23 
開催地(和) 名城大学名駅サテライト(MSAT) 
開催地(英)  
テーマ(和) 電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ED 
会議コード 2015-10-ED 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) テラヘルツ波帯における真空デバイスへの取組み 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Development Activity of Vacuum Electronics in THz Band 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ / Terahertz  
キーワード(2)(和/英) 真空デバイス / Vacuum Electronics  
キーワード(3)(和/英) 進行波管 / TWT  
キーワード(4)(和/英) TPM / TPM  
キーワード(5)(和/英) 増幅器 / Amplifier  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 満 / Mitsuru Yoshida / ヨシダ ミツル
第1著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社 (略称: NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd. (略称: NETS)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡本 耕治 / Koji Okamoto / オカモト コウジ
第2著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社 (略称: NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd. (略称: NETS)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 則夫 / Norio Masuda / マスダ ノリオ
第3著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社 (略称: NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd. (略称: NETS)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松岡 順一 / Junichi Matsuoka / マツオカ jジュンイチ
第4著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社 (略称: NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd. (略称: NETS)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 関根 徳彦 / Norihiko Sekine / セキネ ノリヒコ
第5著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 菅野 敦史 / Atsushi Kanno / カンノ アツシ
第6著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 山本 直克 / Naokatsu Yamamoto / ヤマモト ナオカツ
第7著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 寳迫 巌 / Iwao Hosako / ホウサコ イワオ
第8著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
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講演者
発表日時 2015-10-22 16:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ED 
資料番号 IEICE-ED2015-60 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.264 
ページ範囲 pp.31-34 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-ED-2015-10-15 


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