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講演抄録/キーワード
講演名 2015-10-02 16:50
Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions --
Shin-ichi WadaKeiji KoshidaTMC)・Koichiro SawaNITエレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2015-66
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) Authors have studied the degradation phenomenon on contact resistance under the influences of an external micro-oscillation.
They have developed a hammering oscillating mechanism (HOM) or a micro-sliding mechanism 1 (MSM1) which provides micro-oscillations for electrical contacts.

It is shown that each mechanism is able to simulate an actual degradation phenomenon on electrical contacts.
And they have also developed the third mechanism, namely another micro-sliding mechanism 2 (MSM2) which provides micro-sliding driven by a piezo-electric actuator and elastic hinges, which has more precise sliding performance, less thermal drift on the sliding, and smaller sized system constituted of commercial parts.

In the previous paper, by the MSM2, they consider the theoretical analysis and experiments on input force waveform or output displacement response in the case of three types of input waveform as force which are a sinusoidal, a rectangular, and a pulsive ones.

In this paper, they obtain the experimental results concerning ``minimal sliding amplitude'' against force waveform when resistances on electrical contacts fluctuate under the conditions which are six types of waveform as the above and three levels of frictional force which are usual (1.6 N/pin), middle (1.0 N/pin), and smaller (0.3 N/pin) between a male-pin and a female-part using the MSM2.

And, they compare the differences on the above minimal sliding amplitudes under the conditions by dispersion analysis on statistical test.
Consequently it is shown that that the larger the frictional force is the larger the minimal sliding amplitude is and that the amplitude in a sinusoidal one is larger than in rectangular or pulsive ones.
However, it is not shown that the differences in the amplitudes in pulsive one are clear.
キーワード (和) 電気接点 / 微摺動機構 / 最小摺動振幅 / 正弦波 / 矩形波 / パルス波 / 統計解析 / 劣化現象  
(英) electrical contact / micro-sliding mechanism / minimal sliding amplitude / sinusoudal waveform / rectangular waveform / pulsive waveform / statistical analysis / degradation phenomenon  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 234, EMD2015-66, pp. 37-42, 2015年10月.
資料番号 EMD2015-66 
発行日 2015-09-25 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2015-10-02 - 2015-10-02 
開催地(和) 富士電機機器制御株式会社 
開催地(英) Fuji Electric FA Components & SystemCo.,Ltd. 
テーマ(和) 一般、日本トライボロジー学会固体 潤滑研究会、継電器・コンタクトテクノロジ研究会 共催 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2015-10-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism 
サブタイトル(英) The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(3)(和/英) 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude  
キーワード(4)(和/英) 正弦波 / sinusoudal waveform  
キーワード(5)(和/英) 矩形波 / rectangular waveform  
キーワード(6)(和/英) パルス波 / pulsive waveform  
キーワード(7)(和/英) 統計解析 / statistical analysis  
キーワード(8)(和/英) 劣化現象 / degradation phenomenon  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭司 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第3著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2015-10-02 16:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2015-66 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.234 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2015-09-25 


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