講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-08-07 10:45
複数の系列を同時に使用する離散フーリエ変換検定法について ○岡田大樹・梅野 健(京大) CCS2015-42 |
抄録 |
(和) |
NIST SP 800-22 の離散フーリエ変換検定(DFT検定)の問題点について考察し,そ
してその問題点を克服した,より敏感な離散フーリエ変換検定法を提案す
る.NISTの検定法は,一本の系列の乱数性を検定し,それを同じ乱数生成器に
より生成された複数の系列にも同様に検定を行うことで乱数生成器の評価をし
ている.そこで,今回の改良において鍵となるのは,複数の系列に跨がった系
列の要素から検定統計量を構成することである.この検定法には従来のような
理論的問題点はなく,また,検定統計量の理論的分布も解析的に求められてい
る.複数の擬似乱数生成器を用いて検定結果を比較したところ,提案法が従来
法よりも厳しい検定になっていることが確認された. |
(英) |
In this paper, we review the problems in the Discrete Fourier
Transform (DFT) test included in SP800-22 released by National Institute of
Standards and Technology (NIST), and propose a new DFT test that
conquers the problems.
While the tests in SP 800-22 test the randomness of input sequences
one by one, our proposal method simultaneously uses
all the sequences. Thereby, the proposal method conquers the
crucial problem that the conventional DFT test regards Fourier coefficients as
mutually independent stochastic variables. We also compared the sensitivity of the
conventional test with that of the proposal test. As a result, we
found that the proposal test is more sensitive than the conventional test. |
キーワード |
(和) |
離散フーリエ変換 / 乱数 / 統計検定 / SP800-22 / NIST / / / |
(英) |
discrete Fourier transform / random number / statistical test / SP800-22 / NIST / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 115, no. 178, CCS2015-42, pp. 73-78, 2015年8月. |
資料番号 |
CCS2015-42 |
発行日 |
2015-07-30 (CCS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
CCS2015-42 |