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講演抄録/キーワード
講演名 2015-08-07 10:45
複数の系列を同時に使用する離散フーリエ変換検定法について
岡田大樹梅野 健京大CCS2015-42
抄録 (和) NIST SP 800-22 の離散フーリエ変換検定(DFT検定)の問題点について考察し,そ
してその問題点を克服した,より敏感な離散フーリエ変換検定法を提案す
る.NISTの検定法は,一本の系列の乱数性を検定し,それを同じ乱数生成器に
より生成された複数の系列にも同様に検定を行うことで乱数生成器の評価をし
ている.そこで,今回の改良において鍵となるのは,複数の系列に跨がった系
列の要素から検定統計量を構成することである.この検定法には従来のような
理論的問題点はなく,また,検定統計量の理論的分布も解析的に求められてい
る.複数の擬似乱数生成器を用いて検定結果を比較したところ,提案法が従来
法よりも厳しい検定になっていることが確認された. 
(英) In this paper, we review the problems in the Discrete Fourier
Transform (DFT) test included in SP800-22 released by National Institute of
Standards and Technology (NIST), and propose a new DFT test that
conquers the problems.
While the tests in SP 800-22 test the randomness of input sequences
one by one, our proposal method simultaneously uses
all the sequences. Thereby, the proposal method conquers the
crucial problem that the conventional DFT test regards Fourier coefficients as
mutually independent stochastic variables. We also compared the sensitivity of the
conventional test with that of the proposal test. As a result, we
found that the proposal test is more sensitive than the conventional test.
キーワード (和) 離散フーリエ変換 / 乱数 / 統計検定 / SP800-22 / NIST / / /  
(英) discrete Fourier transform / random number / statistical test / SP800-22 / NIST / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 178, CCS2015-42, pp. 73-78, 2015年8月.
資料番号 CCS2015-42 
発行日 2015-07-30 (CCS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CCS2015-42

研究会情報
研究会 CCS  
開催期間 2015-08-06 - 2015-08-07 
開催地(和) 第一滝本館(北海道登別市) 
開催地(英) Dai-ichi Takimotokan (Noboribetsu, Hokkaido) 
テーマ(和) ネットワークの科学, 一般 
テーマ(英) Network Science, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CCS 
会議コード 2015-08-CCS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 複数の系列を同時に使用する離散フーリエ変換検定法について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Discrete Fourier Transform Test Based on the Simultaneous Use of Multiple Sequences 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 離散フーリエ変換 / discrete Fourier transform  
キーワード(2)(和/英) 乱数 / random number  
キーワード(3)(和/英) 統計検定 / statistical test  
キーワード(4)(和/英) SP800-22 / SP800-22  
キーワード(5)(和/英) NIST / NIST  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡田 大樹 / Hiroki Okada / オカダ ヒロキ
第1著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 梅野 健 / Ken Umeno / ウメノ ケン
第2著者 所属(和/英) 京都大学 (略称: 京大)
Kyoto University (略称: Kyoto Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-08-07 10:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 CCS 
資料番号 CCS2015-42 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.178 
ページ範囲 pp.73-78 
ページ数
発行日 2015-07-30 (CCS) 


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