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講演抄録/キーワード
講演名 2015-07-28 16:00
SID2015報告:AMD関連分野
松田時宜龍谷大EID2015-4 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2015-4
抄録 (和) Display Week 2015 (SID’15) が2015年5月31日~6月5日までの日程にてアメリカ合衆国カリフォルニア州サンノゼで行われた。ここではActive-Matrix Devices関連のSession 33, 39, 45, 51, 57, 63, 69での注目すべき講演を報告する。酸化物、高精細ディスプレイなどについての発表が行われ、興味深かった。 
(英) Display Week 2015 (SID’15) was held from May 31 to June 5, 2015 in San Jose, USA. Here, outstanding presentations in Sessions 33, 39, 45, 51, 57, 63, and 69 for Active Matrix Devices and related field were reported. Novel oxide TFTs with those applications, and also reliabilities, high resolution displays were presented.
キーワード (和) アクティブマトリックスデバイス / 薄膜トランジスタ回路 / IGZO / ZnON / 4K2K / 高解像度ディスプレイ / /  
(英) Active matrix devices (AMD) / TFT circuit / IGZO / ZnON / 4K2K / High resolution display / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 157, EID2015-4, pp. 37-40, 2015年7月.
資料番号 EID2015-4 
発行日 2015-07-21 (EID) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EID2015-4 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2015-4

研究会情報
研究会 EID SID-JC ITE-IDY IEIJ-SSL  
開催期間 2015-07-28 - 2015-07-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) SID '15報告会 
テーマ(英) Report on SID '15 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EID 
会議コード 2015-07-EID-JC-IDY-SSL 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SID2015報告:AMD関連分野 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Report on SID 2015: AMD 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) アクティブマトリックスデバイス / Active matrix devices (AMD)  
キーワード(2)(和/英) 薄膜トランジスタ回路 / TFT circuit  
キーワード(3)(和/英) IGZO / IGZO  
キーワード(4)(和/英) ZnON / ZnON  
キーワード(5)(和/英) 4K2K / 4K2K  
キーワード(6)(和/英) 高解像度ディスプレイ / High resolution display  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松田 時宜 / Tokiyoshi Matsuda / マツダ トキヨシ
第1著者 所属(和/英) 龍谷大学 (略称: 龍谷大)
Ryukoku University (略称: Ryukoku Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-07-28 16:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 EID 
資料番号 EID2015-4 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.157 
ページ範囲 pp.37-40 
ページ数
発行日 2015-07-21 (EID) 


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