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講演抄録/キーワード
講演名 2015-07-10 16:20
[特別講演]システムの機能安全に適用する機構デバイスの信頼性評価方法(1) ~ 総論 ~
青木 武濱田健次郎安川コントロール)・及川宜久TE)・横山和也OSDCEMCJ2015-52 EMD2015-29 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2015-29
抄録 (和) 近年、鉄道、電力、昇降機等安全関連系における事故の多発に伴い、各種システムの安全性を規定する安全要求事項や機能安全規格とその規定の根拠となる部品の信頼性規格ならびにそれらの安全設計や事故防止対策への展開/活用が注目されている。本報は、まずシステムの安全性とデバイスの信頼性に関わる国際規格を鳥瞰し、そのうち、機構デバイスとその適用分野である安全関連系を主対象に、安全度水準を信頼性パラメータから導く算定方法の総浚いを試み、最後に規格の適用事例、導入効果の一端に触れたものである。 
(英) Recently, safety requirements, functional safety standards and their basic parameter; reliability standards have been paid attention to. Furthermore, their development to safety design and preventive measures against failures has been required. In this paper, a bird’s-eye view on international standards of functional safety and reliability are got at first. Next, electromechanical devices and their applications; safety-related systems are focused from them, and reliability parameters, functional safety levels and evaluation systems on relationship between both of them are described. Finally, a part of the application examples of standards and introduction results are introduced.
キーワード (和) 機能安全 / 信頼性 / 故障率 / ワイブル解析 / 安全度水準(SIL) / IEC / ISO /  
(英) Functional safety / Reliability / Safety Integrity Level (SIL) / Failure rate / Weibull analysis / IEC / ISO /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 135, EMD2015-29, pp. 47-51, 2015年7月.
資料番号 EMD2015-29 
発行日 2015-07-03 (EMCJ, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2015-52 EMD2015-29 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2015-29

研究会情報
研究会 EMCJ EMD  
開催期間 2015-07-10 - 2015-07-10 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 放電, 実装, EMC一般 
テーマ(英) Discharge, Electronic Packaging, EMC 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2015-07-EMCJ-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) システムの機能安全に適用する機構デバイスの信頼性評価方法(1) 
サブタイトル(和) 総論 
タイトル(英) Required for Investigation on Functional Safety (1) 
サブタイトル(英) Outline 
キーワード(1)(和/英) 機能安全 / Functional safety  
キーワード(2)(和/英) 信頼性 / Reliability  
キーワード(3)(和/英) 故障率 / Safety Integrity Level (SIL)  
キーワード(4)(和/英) ワイブル解析 / Failure rate  
キーワード(5)(和/英) 安全度水準(SIL) / Weibull analysis  
キーワード(6)(和/英) IEC / IEC  
キーワード(7)(和/英) ISO / ISO  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 青木 武 / Takeshi Aoki / アオキ タケシ
第1著者 所属(和/英) * (略称: *)
* (略称: *)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱田 健次郎 / Kenjiro Hamada / ハマダ ケンジロー
第2著者 所属(和/英) 安川コントロール (略称: 安川コントロール)
Yaskawa Control (略称: Yaskawa Control)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 及川 宜久 / Nobuhisa Oikawa / オイカワ ノブヒサ
第3著者 所属(和/英) タイコエレクトロニクス ジャパン (略称: TE)
Tyco Electronics Japan (略称: TE)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 横山 和也 / Kazuya Yokoyama /
第4著者 所属(和/英) 沖センサデバイス (略称: OSDC)
Oki sensor device corporation (略称: OSDC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-07-10 16:20:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMCJ2015-52, EMD2015-29 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.134(EMCJ), no.135(EMD) 
ページ範囲 pp.47-51 
ページ数
発行日 2015-07-03 (EMCJ, EMD) 


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