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講演抄録/キーワード
講演名 2015-06-19 15:55
統計的手法を用いた微摺動機構による電気接点劣化現象解析 ~ いくつかの実験条件下における最小摺動振幅データを用いた統計解析 ~
越田圭治和田真一久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2015-17 CPM2015-27 OME2015-30
抄録 (和) 著者らは,超磁歪アクチュエータと並行板ばねを用いることにより,電子デバイスを直接微小摺動させることができる機構(MSM1)を 設計・開発している.また,圧電アクチュエータと弾性ヒンジを用いた改良型微摺動機構(MSM2)を設計・開発している.著者らは,電気接点劣化過程の解析を行いうる指標の1つとして最小摺動振幅を提案している.最小摺動振幅とは,各条件で約1日の摺動実験を行ったときに,接触電圧を上昇させ接点劣化を生じさせる最小の摺動振幅のことである.本報告では特に,最小摺動振幅データの解析における統計学的手法についての詳細を述べる.分散分析と,母平均の点推定および区間推定を用いることで実験データに客観性を与えられると考えている. 
(英) Authors have designed and developed a mechanism to be capable of micro-sliding electrical contact directly by using a giant magnetostriction actuator and parallel leaf springs (MSM1).They also have designed and developed an improved micro-sliding mechanism (MSM2) using a piezoelectric actuator and elastic hinges.And they have proposed a minimal sliding amplitude as one of the indicators that can analyze the electrical contacts in the the degradation processes.In this paper, the minimal sliding amplitude is a minimal property to increase contact voltages and to cause degradation phenomenon when sliding experiments are carried out for about a day under some conditions.They describe particularly the details of statistical methods for the analysis of the experimental results of minimal sliding amplitude data.They apply an analysis of variance, a point estimation, and an interval estimation for a population mean.They consider that the methods give objectivity to the experimental results.
キーワード (和) 電気接点 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 統計解析 / 分散分析 / 点推定 / 区間推定 /  
(英) electrical contact / contact resistance / micro-sliding mechanism / statistics analysis / analysis of variance / point estimation / interval estimation /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 103, EMD2015-17, pp. 35-40, 2015年6月.
資料番号 EMD2015-17 
発行日 2015-06-12 (EMD, CPM, OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD CPM OME  
開催期間 2015-06-19 - 2015-06-19 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 材料デバイスサマーミーティング 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2015-06-EMD-CPM-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 統計的手法を用いた微摺動機構による電気接点劣化現象解析 
サブタイトル(和) いくつかの実験条件下における最小摺動振幅データを用いた統計解析 
タイトル(英) By means of a statistical method an analysis of degradation phenomenon of electrical contacts using micro-sliding mechanisms 
サブタイトル(英) A statistical analysis using data of minimal sliding amplitudes under some conditions 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(3)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(4)(和/英) 統計解析 / statistics analysis  
キーワード(5)(和/英) 分散分析 / analysis of variance  
キーワード(6)(和/英) 点推定 / point estimation  
キーワード(7)(和/英) 区間推定 / interval estimation  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2015-06-19 15:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2015-17,IEICE-CPM2015-27,IEICE-OME2015-30 
巻番号(vol) IEICE-115 
号番号(no) no.103(EMD), no.104(CPM), no.105(OME) 
ページ範囲 pp.35-40 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMD-2015-06-12,IEICE-CPM-2015-06-12,IEICE-OME-2015-06-12 


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