講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-06-19 13:00
Arイオン注入を用いた1550 nm帯多重積層QD構造の組成混晶化と光集積素子への応用 ○松本 敦(NICT)・武井勇樹(早大)・赤羽浩一・山本直克・川西哲也(NICT)・石川 浩・松島裕一・宇高勝之(早大) OPE2015-12 LQE2015-22 エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2015-12 LQE2015-22 |
抄録 |
(和) |
多重積層半導体量子ドット(QD)構造を用いたモノリシック光集積デバイス実現に向け、ICP-RIEのArプラズマ照射による組成混晶化技術を検討し、それを用いて量子ドット半導体光増幅器(QD-SOA)と2重リング共振器型波長選択フィルタを集積させた光論理ゲート素子を検討してきた。今回、従来技術の問題点を改善するため、Arをイオン注入することによる組成混晶化を検討した。組成混晶化プロセスの条件を適切にすることで、約120 nm程度の発光波長の短波長化を示し、また、SIMS分析によりその物理的要因の一つがGa元素の拡散に起因していることを明らかにした。またブロードタイプのLDを作製し、良好な特性であることを示した。 |
(英) |
In order to realize the monolithic optical integrated devices with using highly stacked semiconductor quantum dots structure, we have studied the intermixing technique using Ar plasma of ICP-RIE, and also, fabricated the optical logic gate device integrated with QD-SOA and ring resonator filter. In this paper, we investigated the intermixing technique with Ar ion implantation and showed the peak wavelength shift of about 120 nm. And we indicated one of the factors of intermixing was Ga diffusion by the SIMS analysis. Also, fabricating the broad type LD with the Ar implantation intermixing, we obtained the fine characteristics. |
キーワード |
(和) |
量子ドット / 組成混晶化 / イオン注入 / 光集積デバイス / / / / |
(英) |
Quantum dots / Quantum Dot Intermixing / Ion implantation / Optical integrated device / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 115, no. 106, OPE2015-12, pp. 9-13, 2015年6月. |
資料番号 |
OPE2015-12 |
発行日 |
2015-06-12 (OPE, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
OPE2015-12 LQE2015-22 エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2015-12 LQE2015-22 |