講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-03-12 14:10
SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法の検討 ○内田洸太・川村正樹(山口大) EMM2014-83 |
抄録 |
(和) |
SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法を検討した.電子透かしでは,幾何学的攻撃を受けた場合でも正確に透かし情報を抽出できることが求められる.幾何学的攻撃とは,画像の拡大縮小やクリッピングなどによって画像座標が変化する攻撃のことである.この場合,画素の座標が大幅に変化し,透かしを抽出することが困難になる.そのため,拡大縮小に対して不変な特徴点を基に透かしを埋め込む方法が考えられる.SIFTは拡大縮小に不変性を持つ特徴点検出器の1つであり,画像の勾配に基づいて特徴点を検出することができる.SIFT特徴点を用いた従来法では,特徴領域に直接透かし情報を埋め込むため,同一特徴点の再検出率が低下する問題がある.透かし埋め込みの影響を軽減するために,SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法を提案する.透かし抽出において,多数の特徴点から透かし情報を抽出することができる.しかしながら,抽出した透かし情報の中には,誤りを含むものがある.そこで,多数決を導入する.SIFTによる同一特徴点の再検出率と,透かし情報のビット誤り率を用いて従来法と提案手法の性能を比較した.その結果,透かし埋込みによる再検出率を改善することができた. |
(英) |
We considered a watermarking method embedding surrounding regions of SIFT feature points. In digital watermarking, it is required to extract watermarks exactly from the image distorted by geometric attacks. The geometric attacks are the attacks such that the coordinate system of the image is distorted by scaling, clipping and so on. Since the coordinate system of the distorted image is out of alignment, it is difficult to extract watermarks. Therefore, watermarking methods by using scale invariant feature point should be explored. SIFT is one of scale invariant feature detectors. It can extract the feature points based on gradient in the image. For conventional method using SIFT, redetection ratio of SIFT feature points declines, since the watermarks are embedded into regions including SIFT feature points. To avoid negative influence of embedding watermarks, we proposed a watermarking method embedding surrounding regions of SIFT feature points. In decoder, a lot of watermarks can be extracted from detected SIFT feature points. The extracted watermarks have some errors. Therefore, we introduce majority voting. We compared the proposed method with the conventional method by using the redetection ratio of SIFT feature points and bit error rate of the watermarks. As the result, the proposed method can improve the redetection ratio. Also, our method can extract watermarks without errors from attacked stego images. |
キーワード |
(和) |
電子透かし / SIFT / 拡大縮小 / DCT / QIM / / / |
(英) |
digital watermark / SIFT / scaling / DCT / QIM / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 511, EMM2014-83, pp. 37-42, 2015年3月. |
資料番号 |
EMM2014-83 |
発行日 |
2015-03-05 (EMM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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EMM2014-83 |