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講演抄録/キーワード
講演名 2015-03-12 14:10
SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法の検討
内田洸太川村正樹山口大EMM2014-83
抄録 (和) SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法を検討した.電子透かしでは,幾何学的攻撃を受けた場合でも正確に透かし情報を抽出できることが求められる.幾何学的攻撃とは,画像の拡大縮小やクリッピングなどによって画像座標が変化する攻撃のことである.この場合,画素の座標が大幅に変化し,透かしを抽出することが困難になる.そのため,拡大縮小に対して不変な特徴点を基に透かしを埋め込む方法が考えられる.SIFTは拡大縮小に不変性を持つ特徴点検出器の1つであり,画像の勾配に基づいて特徴点を検出することができる.SIFT特徴点を用いた従来法では,特徴領域に直接透かし情報を埋め込むため,同一特徴点の再検出率が低下する問題がある.透かし埋め込みの影響を軽減するために,SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法を提案する.透かし抽出において,多数の特徴点から透かし情報を抽出することができる.しかしながら,抽出した透かし情報の中には,誤りを含むものがある.そこで,多数決を導入する.SIFTによる同一特徴点の再検出率と,透かし情報のビット誤り率を用いて従来法と提案手法の性能を比較した.その結果,透かし埋込みによる再検出率を改善することができた. 
(英) We considered a watermarking method embedding surrounding regions of SIFT feature points. In digital watermarking, it is required to extract watermarks exactly from the image distorted by geometric attacks. The geometric attacks are the attacks such that the coordinate system of the image is distorted by scaling, clipping and so on. Since the coordinate system of the distorted image is out of alignment, it is difficult to extract watermarks. Therefore, watermarking methods by using scale invariant feature point should be explored. SIFT is one of scale invariant feature detectors. It can extract the feature points based on gradient in the image. For conventional method using SIFT, redetection ratio of SIFT feature points declines, since the watermarks are embedded into regions including SIFT feature points. To avoid negative influence of embedding watermarks, we proposed a watermarking method embedding surrounding regions of SIFT feature points. In decoder, a lot of watermarks can be extracted from detected SIFT feature points. The extracted watermarks have some errors. Therefore, we introduce majority voting. We compared the proposed method with the conventional method by using the redetection ratio of SIFT feature points and bit error rate of the watermarks. As the result, the proposed method can improve the redetection ratio. Also, our method can extract watermarks without errors from attacked stego images.
キーワード (和) 電子透かし / SIFT / 拡大縮小 / DCT / QIM / / /  
(英) digital watermark / SIFT / scaling / DCT / QIM / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 511, EMM2014-83, pp. 37-42, 2015年3月.
資料番号 EMM2014-83 
発行日 2015-03-05 (EMM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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PDFダウンロード EMM2014-83

研究会情報
研究会 EMM  
開催期間 2015-03-12 - 2015-03-13 
開催地(和) 大濱信泉記念館(石垣島) 
開催地(英)  
テーマ(和) 画質・音質評価,知覚・認知メトリクス,人間視聴覚システム,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMM 
会議コード 2015-03-EMM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SIFT特徴点周辺領域を用いた電子透かし法の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Consideration of watermarking method embedding surrounding region of SIFT feature 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電子透かし / digital watermark  
キーワード(2)(和/英) SIFT / SIFT  
キーワード(3)(和/英) 拡大縮小 / scaling  
キーワード(4)(和/英) DCT / DCT  
キーワード(5)(和/英) QIM / QIM  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 内田 洸太 / Kouta Uchida / ウチダ コウタ
第1著者 所属(和/英) 山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 川村 正樹 / Masaki Kawamura / カワムラ マサキ
第2著者 所属(和/英) 山口大学 (略称: 山口大)
Yamaguchi University (略称: Yamaguchi Univ.)
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講演者
発表日時 2015-03-12 14:10:00 
発表時間 90 
申込先研究会 EMM 
資料番号 IEICE-EMM2014-83 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.511 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-EMM-2015-03-05 


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