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講演抄録/キーワード
講演名 2015-03-02 13:25
側壁プロセス配線におけるカットパターン削減手法
高橋紀之井原岳志高橋篤司東工大VLD2014-154
抄録 (和) 側壁プロセスによるダブルパターニング(SADP)によって実現可能な配線パターンを,
効率よく生成するために,二色配線グリッドを用いて配線を生成する手法が提案されている.
また,SADPのためのパターンマスクにカットパターンを用いると,
トリムマスクが不要となるが,多くのカットパターンを用いると
ウェハ上に実現されるパターンの信頼性が低下する可能性が高い.
本研究では,SADPのためのパターンマスクで必要となるカットパターン数が少ない配線を生成する
SADPのための二色配線グリッドを用いた配線手法を提案する. 
(英) In Self-Aligned Double Patterning (SADP),
a routing method that generates a SADP friendly routing pattern efficiently
by using two-color base grid was proposed.
A routing pattern can be realized without trim mask
if a special pattern called cut-pattern is used in a pattern mask of SADP.
However the reliability of a wafer image is expected to be reduced
if the number of cut-patterns used increases.
In this paper, we propose a routing method that realizes
a routing pattern with less cut-patterns
by using two-color base grid.
キーワード (和) SADP / 2色グリッド / マスク / カットパターン / / / /  
(英) SADP / Two-color base grid / Mask / Cut-Pattern / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 476, VLD2014-154, pp. 7-12, 2015年3月.
資料番号 VLD2014-154 
発行日 2015-02-23 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2014-154

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2015-03-02 - 2015-03-04 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2015-03-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 側壁プロセス配線におけるカットパターン削減手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A cut-pattern reduction method for routing in Self-Aligned Double Patterning 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) SADP / SADP  
キーワード(2)(和/英) 2色グリッド / Two-color base grid  
キーワード(3)(和/英) マスク / Mask  
キーワード(4)(和/英) カットパターン / Cut-Pattern  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 紀之 / Noriyuki Takahashi / タカハシ ノリユキ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 井原 岳志 / Takeshi Ihara / イハラ タケシ
第2著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 篤司 / Atsushi Takahashi / タカハシ アツシ
第3著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech)
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講演者 第1著者 
発表日時 2015-03-02 13:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2014-154 
巻番号(vol) vol.114 
号番号(no) no.476 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2015-02-23 (VLD) 


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