講演抄録/キーワード |
講演名 |
2015-03-02 13:25
側壁プロセス配線におけるカットパターン削減手法 ○高橋紀之・井原岳志・高橋篤司(東工大) VLD2014-154 |
抄録 |
(和) |
側壁プロセスによるダブルパターニング(SADP)によって実現可能な配線パターンを,
効率よく生成するために,二色配線グリッドを用いて配線を生成する手法が提案されている.
また,SADPのためのパターンマスクにカットパターンを用いると,
トリムマスクが不要となるが,多くのカットパターンを用いると
ウェハ上に実現されるパターンの信頼性が低下する可能性が高い.
本研究では,SADPのためのパターンマスクで必要となるカットパターン数が少ない配線を生成する
SADPのための二色配線グリッドを用いた配線手法を提案する. |
(英) |
In Self-Aligned Double Patterning (SADP),
a routing method that generates a SADP friendly routing pattern efficiently
by using two-color base grid was proposed.
A routing pattern can be realized without trim mask
if a special pattern called cut-pattern is used in a pattern mask of SADP.
However the reliability of a wafer image is expected to be reduced
if the number of cut-patterns used increases.
In this paper, we propose a routing method that realizes
a routing pattern with less cut-patterns
by using two-color base grid. |
キーワード |
(和) |
SADP / 2色グリッド / マスク / カットパターン / / / / |
(英) |
SADP / Two-color base grid / Mask / Cut-Pattern / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 476, VLD2014-154, pp. 7-12, 2015年3月. |
資料番号 |
VLD2014-154 |
発行日 |
2015-02-23 (VLD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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VLD2014-154 |