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講演抄録/キーワード
講演名 2015-02-20 15:20
微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 ~ いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅 ~
和田真一越田圭治久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2014-110
抄録 (和) 著者らは,超磁歪アクチュエータと並行板バネを用いることより,電子デバイスを直接微小摺動させることができる機構(MSM1)を設計・開発している,
また,圧電アクチュエータと弾性ヒンジを用いた(MSM2)を設計・開発している.
本論文では,電気接点劣化過程の解析を行いうる指標の1つとして最小摺動振幅を提案する.
最小摺動振幅とは,各条件(接触摩擦力・入力波形・ピン数)において接触電圧が上昇する振幅の最小値のことであり,それ以上ではたいてい抵抗上昇がみられるが,それ以下ではほとんどみられない振幅のことである.
MSM1およびMSM2を用いた実験により,各条件下で,各アクチュエータの摺動振幅を調整することで基板用コネクタおよびピン単体に対して微小摺動を与え,この最小摺動振幅を見積る.
さらに,この最小摺動振幅データを統計処理をすることで,各条件が重要な要素であることを示す. 
(英) Authors have designed and developed a micro-sliding mechanism (MSM1) which causes electronic devices to oscillate directly equipped with an ultra-magnetostrictive actuator and parallel-leaf springs.
They have also designed and developed another micro-sliding mechanism (MSM2) equipped with an PZT actuator and elastic hinges.
In this paper, they propose a minimal sliding amplitude as a indicator to analyse degradation process of electrical contacts.
The amplitude is a minimal value which causes contact voltage to increase on each condition (frictional forces, input waveforms, and the number of pins).
They define a minimal sliding amplitude as the quantity over which the voltage fluctuation almost occurs and under which it hardly occurs.
By experiments with MSM1 and MSM2 on each condition, they apply a micro-sliding to a connector or a couple of pin by adjusting the each actuator, and they evaluate the amplitude.
In addition, it is shown the condition factors to be essential by statistical processing.
キーワード (和) 電気接点 / 劣化現象 / 微摺動機構 / 最小摺動振幅 / 入力波形 / 接触摩擦力 / 統計解析 /  
(英) electrical contact / degradation phenomenon / micro-sliding mechanism / minimal sliding amplitude / input waveform / contact friction / statistical analysis /  
文献情報 信学技報, vol. 114, no. 457, EMD2014-110, pp. 13-20, 2015年2月.
資料番号 EMD2014-110 
発行日 2015-02-13 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2015-02-20 - 2015-02-20 
開催地(和) 静岡大(浜松キャンパス) 
開催地(英)  
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT Society Japan Chapter、IEEE Reliability Society Japan Chapter、静岡大学、 協賛:日本信頼性学会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2015-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 
サブタイトル(和) いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅 
タイトル(英) A method for evaluating degradation phenomenon of electrical contacts using a micro-sliding mechanisms 
サブタイトル(英) Minimal sliding amplitudes against input waveforms under some conditions 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 劣化現象 / degradation phenomenon  
キーワード(3)(和/英) 微摺動機構 / micro-sliding mechanism  
キーワード(4)(和/英) 最小摺動振幅 / minimal sliding amplitude  
キーワード(5)(和/英) 入力波形 / input waveform  
キーワード(6)(和/英) 接触摩擦力 / contact friction  
キーワード(7)(和/英) 統計解析 / statistical analysis  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム株式会社 (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co. Ltd. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Thechnology (略称: NIT)
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講演者
発表日時 2015-02-20 15:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2014-73,IEICE-EMD2014-110 
巻番号(vol) IEICE-114 
号番号(no) no.456(R), no.457(EMD) 
ページ範囲 pp.13-20 
ページ数 IEICE-8 
発行日 IEICE-R-2015-02-13,IEICE-EMD-2015-02-13 


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